Стать участником выставки
{{>currencyLabel}}
Обратно
{{>currenciesTemplate}}
Русский
Обратно
English
Français
Español
Italiano
Deutsch
中文
日本語
português
Ваши недавние запросы
Удалить
Частые запросы
Рекомендации
Другие разделы
Искать {0} в каталогах
Марки, содержащие {0}
{{>productsMenu}}
Продукция
Каталоги
E-MAGAZINE
Продукция
>
Scienta Omicron
Продукция
Продукция
Каталоги
Вся продукция Scienta Omicron
Scanning Probe Microscopy
микроскоп с разверткой зонда
TESLA JT SPM
для лабораторий
на месте
настольный
микроскоп с разверткой зонда
Fermi DryCool SPM
для лабораторий
настольный
с переменной температурой
микроскоп с туннельным эффектом
LT STM
для лабораторий
3D
с переменной температурой
микроскоп с разверткой зонда
VT SPM
для лабораторий
на месте
настольный
Electron Spectroscopy
спектрометр фотоэлектронных рентгеновских лучей
для лабораторий
для НИОКР
MCP
спектрометр фотоэлектронов
NanoSAM Lab
для процесса
MCP
Оже
анализатор спектра
DA20
встраиваемый
компактный
двухмерный
анализатор для жидкостей
HIPP-2 / HIPP-3
спектра
встраиваемый
спектрометр фотоэлектронов
EW4000
для процесса
высокое разрешение
электронный микроскоп
FOCUS PEEM
для лабораторий
модульный
режим реального времени
источник рентгеновских лучей с объединенной системой электропитания
DAR 400
источник света с лампами
VUV5k
VUV
компактный
для спектроскопии
source de faisceau d'électrons для сканирующего электронного микроскопа
SEM 250 / SEM 500
источник ионов
FDG15
сфокусированный ионный пучок
GCIB 10S
Molecular Beam Epitaxy
испаритель пучком ионов
EFM 3
для лабораторий
испаритель пучком ионов
EFM 6
для процесса
испаритель пучком ионов
Triple EFM
для процесса
испаритель пучком ионов
EFM-H
для процесса
эффузионная ячейка низкая температура
NTEZ
высокотемпературная эффузионная ячейка
WEZ
эффузионная ячейка
PEZ
плазменный источник CVD
PVD
для обработки поверхностей
клапанная установка крекинга мышьяка
Tailored Systems
сверхвысоковакуумная установка UHV для сканирующего зондового микроскопа (SPM)
MULTIPROBE S
сверхвысоковакуумная установка UHV для сканирующего зондового микроскопа (SPM)
MULTIPROBE P,XP,XA,RM
сверхвысоковакуумная установка UHV для сканирующего зондового микроскопа (SPM)
MULTIPROBE MXPS
система МЛЭ
ARPES
система МЛЭ
UHV PLD
Electron Diffraction
источник рентгеновских лучей
BDL600IR-MCP
Other products
source de faisceau d'électrons для сканирующего электронного микроскопа
SEM 20
Анализатор для жидкостей
Микроскоп
Спектрометр
Встраиваемый анализатор
Микроскоп для лабораторий
Компактный анализатор
Спектрометр для лабораторий
Настольный микроскоп
Анализатор спектра
Спектрометр для процесса
Испаритель для процесса
Источник света с лампами
Испаритель для лабораторий
Спектрометр высокое разрешение
Ультрафиолетовый источник света
Компактный источник света
Эргономичный микроскоп
Микроскоп 3D
Спектрометр для НИОКР
Модульный микроскоп
подробнее...
Электронный микроскоп
Микроскоп режим реального времени
Источник рентгеновских лучей
Зондовый микроскоп
Микроскоп на месте
Источник ионов
Источник света для спектроскопии
Микроскоп с разверткой зонда
Источник рентгеновских лучей с объединенной системой электропитания
Спектрометр фотоэлектронов
Система МЛЭ
Плазменный источник
Двухмерный анализатор
Спектрометр MCP
Source de faisceau d'électrons
Микроскоп с туннельным эффектом
Плазменный источник для обработки поверхностей
Микроскоп низкая температура
Сравнить
Удалить все сравниваемые товары
Сравнить до 10 товаров