Сверхвысоковакуумная установка UHV для сканирующего зондового микроскопа (SPM) MULTIPROBE P,XP,XA,RM

Преданные варианты p, XP и RM подготовки стандартного образца портняжничаны для приспособления системы MULTIPROBE s легкого, даже для более последнего подъема. Систему MULTIPROBE LTS можно модернизировать с вариантом XP или XA в любое время. Мощное разрешение XA сочетание из анализ и камера подготовки. MULTIPROBE p система науки UHV поверхности двойн-камеры с большой камерой анализа multi-метода для микроскопии зонда спектроскопии электрона и скеннирования UHV, и отдельно камера подготовки образца с FEL. Камеры подготовки в MULTIPROBE p предлагают средства подготовки стандартного образца как рост тонкой пленки или образец sputtering и нагрюя. MULTIPROBE XP система науки UHV поверхности двойн-камеры с большой камерой анализа multi-метода для микроскопии зонда спектроскопии электрона и скеннирования UHV, и отдельно камера подготовки образца с FEL. Камера подготовки в MULTIPROBE XP предлагает выдвинутую подготовку образца включая образец sputtering, нагрюя и рост тонкой пленки с in-situ характеризацией LEED или RHEED в MULTIPROBE XP. RM MULTIPROBE двойная система науки UHV поверхности камеры с большой камерой анализа multi-метода для микроскопии зонда спектроскопии и скеннирования электрона, и отдельно камера MBE при охлаждая кожух LN2 идеально одетый для MBE исследования и in-situ характеризации роста тонкой пленки с RHEED