Сфокусированный ионный пучок GCIB 10S

GCIB 10S разработан для максимальной производительности профилирования глубины в сочетании с XPS и другими системами анализа поверхности. Кластерные ионные пучки позволяют проводить анализ глубинного профилирования полимеров с минимальными потерями химической информации из-за повреждения ионным пучком. Это имеет решающее значение при анализе современных многослойных структур, таких как OLED, биомедицинские устройства, чувствительные покрытия или другие полимерные поверхности, но также показывает значительное улучшение в анализе хорошо зарекомендовавших себя материалов, которые могут деградировать при нормальном профилировании с Ar1. Помимо использования аргонового кластерного источника ионов в сочетании с новыми системами XPS, GCIB 10S также может быть легко интегрирован в существующие системы UHV с подходящим фланцем NW63CF, направленным на образец. Он обеспечивает экономичное средство модернизации XPS, SIMS или других систем для использования распыления кластерного луча для очистки образца или анализа профиля глубины.