Микроскоп с разверткой зонда VT SPM

для лабораторийна местенастольный

25 K 1500 K Истинный pA STM Улучшенная спектроскопия dI/dV Спектроскопия Отклонение луча AFM QPlus-сенсор AFM Испарение in-situ Испарение на месте Микроскоп Omicron VT SPM - это хорошо зарекомендовавший себя во многих исследовательских лабораториях микроскоп для сканирующей зондовой микроскопии. В 1996 году он получил престижную награду в области НИОКР. На сегодняшний день поставлено и успешно установлено более 500 приборов по всему миру. Объем результатов исследований и публикаций является неоспоримым доказательством эффективности, качества и универсальности конструкции УСВ с переменной температурой. В Усилителе переменной температуры SPM используется новейшая технология предварительного усилителя для сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии суб-ПА. Стабильная работа при низком токе важна для исследования чувствительных или имеющих низкую проводимость поверхностей. Для модуляции спектроскопии электронная компенсация уменьшает влияние паразитных токов. Это экономит время и улучшает результаты съемки. Технология АСМ переменной температуры СПМ основана на более чем 20-летнем опыте атомно-силовой микроскопии в ультравысоком ультрафиолетовом излучении. Она постоянно совершенствуется и совершенствуется. Классический АФМ с функцией отклонения луча для контактного и бесконтактного АФМ обеспечивает гибкость для различных режимов работы и различных типов консолей. Например, доступны AFM высокого разрешения, силовая микроскопия трения, электростатическая силовая микроскопия (EFM), сканирующая кельвинская зондовая микроскопия (SKPM) и магнитно-силовая микроскопия (MFM).