＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... В области промышленного качества, анализа неисправностей или исследований сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) является оптимальным решением для металлографии и анализа неисправностей благодаря своей способности получать изображения ...
Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm
... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, ...
Nikon Metrology
Вес: 9,5 kg
Длина: 362 mm
Ширина: 251 mm
... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации ...
Nikon Metrology
Увеличение : 1 unit - 100 unit
Длина: 295 mm
Ширина: 215 mm
... Nikon ECLIPSE MA200 - это гибкий модульный инвертированный микроскоп с инновационной конструкцией бокса для эпископических оптических контрастных методов контроля в сочетании с аксессуарами для цифровой обработки изображений. Он идеально ...
Nikon Metrology
Увеличение : 5 unit - 100 unit
Вес: 14 kg
Длина: 271 mm
... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, ...
Nikon Metrology
... Неограниченное время измерения Нет потребления гелия Независимый наконечник и контроль температуры образца (T=10-400K) Превосходная производительность дрейфа Стабильность пикометра для долгосрочной спектроскопии STM и усовершенствованная ...
Scienta Omicron
... Увеличенное время выдержки до >65 часов при том же уровне производительности Высокочастотная проводка Увеличенное спектроскопическое разрешение Рекордно проверенная платформа с 1996 года, на которой установлено более 200 устройств Надежная ...
Scienta Omicron
... 25 K 1500 K Истинный pA STM Улучшенная спектроскопия dI/dV Спектроскопия Отклонение луча AFM QPlus-сенсор AFM Испарение in-situ Испарение на месте Микроскоп Omicron VT SPM - это хорошо зарекомендовавший себя во многих исследовательских ...
Scienta Omicron
Пространственное разрешение: 5 nm - 100 000 nm
... Компактный исследовательский AFM с оптимальным соотношением цены и качества CoreAFM является результатом интеллектуального объединения основных компонентов AFM для достижения максимальной универсальности и удобства использования. Благодаря ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось