video corpo

Оптический микроскоп Eclipse LV100ND
для осмотра неметаллических включенийдля контролядля контроля полупроводниковых пластин на линии

Оптический микроскоп - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - для осмотра неметаллических включений / для контроля / для контроля полупроводниковых пластин на линии
Оптический микроскоп - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - для осмотра неметаллических включений / для контроля / для контроля полупроводниковых пластин на линии
Оптический микроскоп - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - для осмотра неметаллических включений / для контроля / для контроля полупроводниковых пластин на линии - изображение - 2
Оптический микроскоп - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - для осмотра неметаллических включений / для контроля / для контроля полупроводниковых пластин на линии - изображение - 3
Оптический микроскоп - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - для осмотра неметаллических включений / для контроля / для контроля полупроводниковых пластин на линии - изображение - 4
Оптический микроскоп - Eclipse LV100ND - Nikon Metrology - для осмотра неметаллических включений / для контроля / для контроля полупроводниковых пластин на линии - изображение - 5
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Тип
оптический
Применение
для осмотра неметаллических включений, для контроля, для контроля полупроводниковых пластин на линии, для лабораторий, для измерений, медицинский, для испытания материалов, для измерения глубины, для измерений тонкослойных покрытий, для бесконтактных измерений по 3-м осям, промышленный, металлографический, для контроля качества, многоцелевой
Эргономика
прямой
Головка микроскопа
тринокулярный, бинокулярный
Метод наблюдения
со светлым фоном, флуоресцентный, поляризованный, фазоконтрастный, темного поля, инфракрасный, с дифференциальной интерференциальной контрастностью
Конфигурация
настольный
Источник света
со светодиодным освещением, с коаксиальной подсветкой
Другие характеристики
для захвата изображений, с цифровой камерой, для топографии, для полупроводниковых пластин, USB, высокое разрешение, автоматизированный, высокой точности, для контроля оптического волокна, для нанотехнологии, с большим рабочим расстоянием, эргономичный, модульный, сканирующее акустическое устройство, для интеграции с микроскопом и профилометром, для плоских проб, 3-осный, простая установка, со скользящей пластиной, высококонтрастный, со значительным увеличением, с контролем интенсивности освещения, режим реального времени, для полированных образцов, для обработки изображений, для полупроводника, механизированный, высокого разрешения, с переменной температурой, низкая температура, со специализированным освещением, для определения асбеста, с интерферометром белого света, экономичный
Вес

9,5 kg
(20,9 lb)

Длина

657 mm
(25,9 in)

Ширина

251 mm
(9,9 in)

Высота

506 mm
(19,9 in)

Описание

Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации и идеально подходят для контроля материалов во многих промышленных приложениях. Модульные моторизованные и ручные вертикальные микроскопы Превосходная оптика Nikon CFI60-2 обеспечивает превосходное изображение как для окуляров, так и для цифровых камер Nikon с программным обеспечением для анализа. Универсальная конструкция микроскопа позволяет совмещать на одной стойке микроскопа дополнительные методы оптического контраста благодаря модульной программе компонентов. Nikon ECLIPSE LV100NDA и LV100ND Эти микроскопы с эпископическим и диаскопическим освещением предназначены для контроля промышленных материалов и компонентов, а также для исследований и разработок. Оптическая серия Nikon CFI60-2 Инновационная конструкция Nikon позволяет использовать четкие методы получения изображений, включая высококонтрастные, яркопольные, темнопольные, поляризационные (POL), дифференциальный интерференционный контраст (DIC) и двухлучевую интерферометрию оптического контраста. Камеры Nikon Digital Sight Все камеры Nikon Digital Sight эффективно фиксируют изображения образца и передают их в программное обеспечение для обработки изображений пакета NIS-Elements вместе с данными микроскопа об используемом объективе, настройке увеличения и интенсивности света.

---

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.