＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Оптические функции, предлагаемые Leica DM12000 M, такие как опциональный режим макросъемки или наклонная УФ-подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при осмотре образцов диаметром ...
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на компромисс с производительностью ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
... Разработанный как логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, глубиной ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 кВ, как в РЭМ. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 1 unit - 330 unit
Пространственное разрешение: 10 nm
... Обзор
Инфракрасный (IR) микроскоп AIMsight — это автоматизированная система FT-IR анализа, разработанная для максимальной автоматизации и повышения эффективности анализа микропроб, дефектов и загрязнений. Система измеряет микроцели, облучая ...
Теперь один и тот же держатель образца можно использовать как для оптического микроскопа, так и для сканирующего электронного микроскопа. В результате, управляя информацией об столике с помощью специального программного обеспечения, система может записывать ...
Вес: 9,5 kg
Длина: 657 mm
Ширина: 251 mm
... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации и идеально ...
Nikon Metrology
... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой линзой, которая ...
Увеличение : 400 unit - 470 unit
Вес: 110 g
Высота: 11,9 cm
... При увеличении увеличения объекты с неровной поверхностью часто оказываются вне фокуса из-за ограниченной глубины резкости. 5,0 МП микроскоп Edge 3.0 AM73915MZT4 400x - 470x предлагает функцию click-to-focus для автоматической фокусировки на интересующей ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 420 unit - 470 unit
Вес: 101 g
Высота: 117 cm
... AF7515MT4A - 5-мегапиксельный микроскоп с коаксиальным освещением для просмотра отражающих поверхностей, обеспечивающий исключительную ярко-полевую визуализацию при увеличении 420x ~ 470x. Благодаря использованию FLC, эта модель может обеспечить четкую ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 400 unit - 470 unit
Вес: 97 g
Длина: 11,5 cm
... 5-Мп Edge AF515MZT4 обеспечивает высококачественные изображения с замечательными цветовыми характеристиками при 400-кратном увеличении. Благодаря встроенному поляризатору и FLC, AF7515MZT4 является универсальным инструментом для широкого круга задач, ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 40 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm - 8 nm
Вес: 120 kg
... Обзор
- Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными
Увеличение : 40 unit - 800 unit
Увеличение : 45 unit
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...
Длина: 204 mm
Ширина: 204 mm
... NaioSTM - это сканирующий туннельный микроскоп, в котором сканирующая головка и контроллер объединены в одном приборе, что обеспечивает еще более простую установку, максимальную простоту использования и легкую транспортировку. Установка устойчива к вибрациям ...
Увеличение : 50, 100, 200, 500 unit
... RMA 5 - Микроскоп отраженного света Структурные исследования материала Небольшой микроскоп с большой производительностью для исследований металлов и других материалов. Микроскоп с отраженным светом включает в себя, помимо оборудования для поляризации, ...
ASKANIA Mikroskop Technik Rathenow GmbH
... Использование Измерительные металлургические микроскопы серии INSPECT широко используются в полупроводниковых корпусах, паяльных пастах, на высоте петли, FPD панелях (LCM), на уровне пластин CSPS и так далее. Особенности: Высокоточное мраморное основание, ...
Увеличение : 2 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 0,1, 0,5 µm
... Этот универсальный измерительный микроскоп, независимо от того, используете ли вы его для повышения производительности с помощью блока технического зрения Mitutoyo, для управления данными на ПК или других приложений, предлагает вам дальнейшее повышение ...
Увеличение : 10, 20, 50, 100 unit
Вес: 11 kg
... ■ Для наблюдения с большим увеличением и металлургического анализа изображений ■ Бесконечная оптическая система, можно добавлять аксессуары, такие как поляризатор, анализатор, в оптический тракт без влияния на качество изображения ...
... Бинокль: Вспомогательное зеркало может вращаться на 180°, с регулируемым шагом от 0° до 90° Фокусное расстояние объектива: 200 мм Система увеличения: Непрерывное увеличение от 0,2x до 5x Диаметр поля зрения: 9 мм-52 мм Хирургический микроскоп RISING-EO, ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки