Стать участником выставки
*mydirectindustry  
Русский
  1. Метрология - Лабораторное дело
  2. Лабораторное Оборудование
  3. Электронный сканирующий микроскоп
  4. Chotest Technology Inc.
video corpo

Микроскоп SEM CEM3000A
биомедицинскийдля исследованийдля испытания материалов

Микроскоп SEM - CEM3000A - Chotest Technology Inc. - биомедицинский / для исследований / для испытания материалов
Микроскоп SEM - CEM3000A - Chotest Technology Inc. - биомедицинский / для исследований / для испытания материалов
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Более подробная информация на сайте Chotest Technology Inc.

Характеристики

Тип
SEM
Применение
для исследований, биомедицинский, для испытания материалов, для материалов, для батареи
Конфигурация
настольный
Источник электронов
вольфрамовая нить
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов, с энергодисперсионным детектором рентгеновского излучения
Другие характеристики
высокое разрешение, для наблюдения, механизированный, для выравнивания, 3-осный, со значительным увеличением, высококонтрастный
Увеличение

МАКС.: 300 000 unit

МИН.: 40 unit

Пространственное разрешение

МАКС.: 8 nm

МИН.: 4 nm

Вес

120 kg
(264,6 lb)

Длина

67 cm
(26,4 in)

Ширина

40 cm
(15,7 in)

Высота

73 cm
(28,7 in)

Описание

Обзор
  • Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными (BSE) электронами и может быть укомплектован опциональным энергодисперсионным спектрометром (EDS) для элементного анализа.


Применения
  • Подходит для материаловедения, бионаук, нанотехнологий и энергетических исследований; расширяем через дополнительные зонды и аксессуары. Встроенные технологии против вибраций и магнитных помех уменьшают шум и повышают стабильность изображений.


Технические характеристики
  • Модель: CEM3000A
  • Наименование: Scanning Electron Microscope
  • Увеличение (электронное изображение): 40×–300 000× (опция сшивки больших областей)
  • Макс. размер образца (Ш × Д × В): 70 mm × 70 mm × 45 mm
  • Филамент / электронная пушка: Вольфрамовая нить
  • Разрешающая способность: ≤ 4 нм (SE), ≤ 8 нм (BSE) @20 kV
  • Ускоряющее напряжение: 1 kV–20 kV
  • Детекторы: Вторичные электроны (SE) — стандарт; Обратнорассеянные электроны (BSE) — стандарт (высокорезолюционная 4‑квадрантная зонд‑система)
  • EDS: Bruker или Oxford (опция)
  • Вакуумная система — Высокий вакуум: лучше 9×10⁻³ Pa
  • Вакуумная система — Низкий вакуум (опция): 5–100 Pa
  • Время откачки / подготовка: В режиме низкого вакуума время откачки ≤ 180 s; альтернативное время ≤ 120 s
  • Время смены образца: Сброс вакуума ≤ 30 s; повторная откачка ≤ 100 s
  • Оси столика: Моторные: X, Y, T; Ручные: R, Z
  • Ход столика: X: 50 mm; Y: 50 mm; Z: 45 mm
  • Вращение и наклон: R: 0°–360° (ручная вращение, вращение пучка); T: -22.5°–+22.5°
  • Камеры в камере: Навигационная камера (Top‑View) — стандартная цветная камера высокой чёткости; Side‑View камера — стандартная IR камера высокой чёткости
  • ОС: Windows 10 / 11 (64 bit)
  • Поддерживаемые размеры изображений: 640×480, 1280×960, 2560×1920, 5120×3840, 10240×7680
  • Вес: 120 kg
  • Габариты (Ш × Г × В): 400 × 670 × 730 mm
  • Питание: 200–240 VAC, 50/60 Hz, 800 W
  • Условия эксплуатации: Температура 15°C–30°C (колебание ≤ 1°C / 15 min); относительная влажность ≤ 65%, без конденсации


Автоматизация и ПО
  • Встроенные функции автоматизации: авто выравнивание, автофокус, авто‑стигмация и однокликовое улучшение изображения для оптимизации рутинных операций.


Опции и аксессуары
  • Опциональные EDS (Bruker или Oxford), режим низкого вакуума, сшивка больших областей, дополнительные зонды и персонализированные аксессуары доступны для адаптации системы под требования лаборатории.

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Chotest Technology Inc.
Более подробная информация на сайте Chotest Technology Inc.

Другие изделия Chotest Technology Inc.

Microscopic Surface

Расширенный поиск
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.