- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для материалов
Микроскопы для материалов
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
микроскоп с рентгеновским излучениемAxia ChemiSEM
Пространственное разрешение: 7, 3, 8, 20 nm
Вес: 10 kg
... Система Thermo Scientific Axia ChemiSEM была разработана для того, чтобы избавить вас от сложностей микроскопии и помочь вам повысить уровень количественного элементного анализа. Благодаря вольфрамовому источнику и полностью интегрированным возможностям ...
Пространственное разрешение: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm
... Сканирующий электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (сканирующий электронный микроскоп ...
... Оцените эффективность и комфорт ежедневной микроскопии. Микроскоп для материалов Visoria M предназначен для применения в металлургии, электронике и полимерной промышленности, а также в лабораториях материаловедения. Оптимизируйте рабочие процессы с помощью ...
... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество оптики ZEISS ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря широкому спектру ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать в многопользовательском ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
электронный сканирующий микроскопSU3800/3900 Family
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...
Увеличение : 50 unit - 1 000 unit
Длина: 25 cm
Ширина: 16 cm
... Введение в продукт
Перевернутый металлографический микроскоп WY-E оснащён бесконечно корректированной оптической системой с коррекцией хроматической аберрации (CSIS), что обеспечивает улучшенное качество изображения и повышенное разрешение для ...
Увеличение : 40 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm - 8 nm
Вес: 120 kg
... Обзор
- Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g
... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций Dino-Lite AM7915MZT - это чудо техники и лучший выбор для требовательных профессионалов. Dino-Lite AM7915MZT предлагает превосходное качество изображения ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 20 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 135 g
... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций, таких как гибкое управление светодиодами (FLC) и полностью алюминиевый корпус, Dino-Lite AM7115MZT - это чудо техники и лучший выбор для профессионалов, ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 120 g
Длина: 130 mm
... Расширяя границы возможностей портативной цифровой микроскопии, 8-мегапиксельный AM8917MZT представляет собой цифровой микроскоп высокого разрешения, способный выявить мельчайшие детали объекта. Микроскоп также обеспечивает исключительную точность цветопередачи, ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой линзой, которая ...
электронный сканирующий микроскопSEM3200
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для ...
CIQTEK Co., Ltd.
... 1. Применение Металлографический микроскоп HL401W - это тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп, который может обеспечить превосходное качество изображения и стабильную операционную систему, простоту эксплуатации и полную комплектацию ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
Вес: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Длина: 560 mm
Ширина: 235, 220 mm
... Ваш обычный инвертированный микроскоп для материаловедения. Микроструктурный и структурный анализ: Вопрос контраста. С помощью Axio Vert.A1 можно исследовать большие и тяжелые образцы, используя широкий спектр классических и современных методов контрастирования. ...
Hitech Instruments
Пространственное разрешение: 0,02 µm
... Обзор продукта
Атомно-силовой микроскоп (wafer-level AFM) — это высокоразрешающий зондовый сканирующий прибор, предназначенный для характеристики трехмерной морфологии поверхности и многофункциональных свойств проводников, полупроводников и ...
оптический микроскопTIG-MIG
Увеличение : 0,7 unit - 4 unit
Высота: 60 cm
... Универсальный бинокль TIG для безопасной и точной сварки Бинокль TIG может быть адаптирован к сварочным аппаратам всех типов и марок, предлагая универсальное решение как для профессионалов, так и для энтузиастов. Оснащенный затемняющим экраном, он эффективно ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo