Микроскопы для материалов

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
13 компании | 34 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
Микроскопы для материалов | Как правильно выбрать микроскоп
Сборка и контроль качества: Микроскопы для контроля качества используются для проверки материалов и готовой продукции. Такие микроскопы часто оснащены экраном, несколько человек одновременно могут просматривать предметы на экране. Контроль электронных деталей: Стереоскопические микроскопы с увеличением до 400 крат позволяют наблюдать объекты, которые умещаются в руке, например, печатные платы или заготовки, и находить возможные производственные дефекты....
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Axia ChemiSEM

Пространственное разрешение: 7, 3, 8, 20 nm
Вес: 10 kg

... Система Thermo Scientific Axia ChemiSEM была разработана для того, чтобы избавить вас от сложностей микроскопии и помочь вам повысить уровень количественного элементного анализа. Благодаря вольфрамовому источнику и полностью интегрированным возможностям ...

микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
Helios 5 PFIB DualBeam

Пространственное разрешение: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm

... Сканирующий электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam (сканирующий электронный микроскоп ...

микроскоп для материалов
микроскоп для материалов
Visoria M

... Оцените эффективность и комфорт ежедневной микроскопии. Микроскоп для материалов Visoria M предназначен для применения в металлургии, электронике и полимерной промышленности, а также в лабораториях материаловедения. Оптимизируйте рабочие процессы с помощью ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп

... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество оптики ZEISS ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
ZEISS EVO

... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря широкому спектру ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
ZEISS Crossbeam

... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать в многопользовательском ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...

металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
WY-E

Увеличение : 50 unit - 1 000 unit
Длина: 25 cm
Ширина: 16 cm

... Введение в продукт
Перевернутый металлографический микроскоп WY-E оснащён бесконечно корректированной оптической системой с коррекцией хроматической аберрации (CSIS), что обеспечивает улучшенное качество изображения и повышенное разрешение для ...

микроскоп SEM
микроскоп SEM
CEM3000A

Увеличение : 40 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm - 8 nm
Вес: 120 kg

... Обзор

  • Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными
...

оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
AM7915MZT

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g

... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций Dino-Lite AM7915MZT - это чудо техники и лучший выбор для требовательных профессионалов. Dino-Lite AM7915MZT предлагает превосходное качество изображения ...

Показать другие изделия
Dino-Lite Europe/IDCP BV
инфракрасный микроскоп
инфракрасный микроскоп
AM7115MZT

Увеличение : 20 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 135 g

... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций, таких как гибкое управление светодиодами (FLC) и полностью алюминиевый корпус, Dino-Lite AM7115MZT - это чудо техники и лучший выбор для профессионалов, ...

Показать другие изделия
Dino-Lite Europe/IDCP BV
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
AM8917MZT

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 120 g
Длина: 130 mm

... Расширяя границы возможностей портативной цифровой микроскопии, 8-мегапиксельный AM8917MZT представляет собой цифровой микроскоп высокого разрешения, способный выявить мельчайшие детали объекта. Микроскоп также обеспечивает исключительную точность цветопередачи, ...

Показать другие изделия
Dino-Lite Europe/IDCP BV
оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
MVM

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой линзой, которая ...

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SEM3200

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg

CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
HL401W

... 1. Применение Металлографический микроскоп HL401W - это тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп, который может обеспечить превосходное качество изображения и стабильную операционную систему, простоту эксплуатации и полную комплектацию ...

Показать другие изделия
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
оптический микроскоп
оптический микроскоп
AxioVert A1 MAT

Вес: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Длина: 560 mm
Ширина: 235, 220 mm

... Ваш обычный инвертированный микроскоп для материаловедения. Микроструктурный и структурный анализ: Вопрос контраста. С помощью Axio Vert.A1 можно исследовать большие и тяжелые образцы, используя широкий спектр классических и современных методов контрастирования. ...

Показать другие изделия
Hitech Instruments
атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп

Пространственное разрешение: 0,02 µm

... Обзор продукта
Атомно-силовой микроскоп (wafer-level AFM) — это высокоразрешающий зондовый сканирующий прибор, предназначенный для характеристики трехмерной морфологии поверхности и многофункциональных свойств проводников, полупроводников и ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
TIG-MIG

Увеличение : 0,7 unit - 4 unit
Высота: 60 cm

... Универсальный бинокль TIG для безопасной и точной сварки Бинокль TIG может быть адаптирован к сварочным аппаратам всех типов и марок, предлагая универсальное решение как для профессионалов, так и для энтузиастов. Оснащенный затемняющим экраном, он эффективно ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки