Микроскопы для материалов

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
11 компании | 31 товара
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
Микроскопы для материалов | Как правильно выбрать микроскоп
Сборка и контроль качества: Микроскопы для контроля качества используются для проверки материалов и готовой продукции. Такие микроскопы часто оснащены экраном, несколько человек одновременно могут просматривать предметы на экране. Контроль электронных деталей: Стереоскопические микроскопы с увеличением до 400 крат позволяют наблюдать объекты, которые умещаются в руке, например, печатные платы или заготовки, и находить возможные производственные...
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
DSX2000

Увеличение : 1 unit - 10 unit

... Полностью моторизованный цифровой микроскоп DSX2000 упрощает задачи, повышает производительность и оптимизирует работу исследователей и специалистов лабораторий контроля качества благодаря интеллектуальным инструментам, универсальной ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
ZEISS Axio Observer

... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
ZEISS EVO

... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
ZEISS Crossbeam

... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать ...

Показать другие изделия
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
микроскоп для материалов
микроскоп для материалов
Visoria M

... Оцените эффективность и комфорт ежедневной микроскопии. Микроскоп для материалов Visoria M предназначен для применения в металлургии, электронике и полимерной промышленности, а также в лабораториях материаловедения. Оптимизируйте рабочие ...

электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются ...

оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
AM7915MZT

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g

... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций Dino-Lite AM7915MZT - это чудо техники и лучший выбор для требовательных профессионалов. Dino-Lite AM7915MZT предлагает превосходное качество ...

Показать другие изделия
Dino-Lite Europe/IDCP BV
инфракрасный микроскоп
инфракрасный микроскоп
AM7115MZT

Увеличение : 20 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 135 g

... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций, таких как гибкое управление светодиодами (FLC) и полностью алюминиевый корпус, Dino-Lite AM7115MZT - это чудо техники и лучший выбор для ...

Показать другие изделия
Dino-Lite Europe/IDCP BV
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
AM8917MZT

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 120 g
Длина: 130 mm

... Расширяя границы возможностей портативной цифровой микроскопии, 8-мегапиксельный AM8917MZT представляет собой цифровой микроскоп высокого разрешения, способный выявить мельчайшие детали объекта. Микроскоп также обеспечивает исключительную ...

Показать другие изделия
Dino-Lite Europe/IDCP BV
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SEM3200

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg

CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM4000Pro

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SEM2100

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
iMetal-1000B

Увеличение : 50 unit - 1 000 unit

... оснащение ярким полем, поляризацией (опционально), метод наблюдения, большое поле зрения, высокое разрешение. Система освещения Kohler, освещение принимает 30W галогенную лампу или светодиодный свет с длительным сроком службы; электрическая ...

оптоцифровой микроскоп
оптоцифровой микроскоп
MVM

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой ...

металлографический микроскоп
металлографический микроскоп
HL401W

... 1. Применение Металлографический микроскоп HL401W - это тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп, который может обеспечить превосходное качество изображения и стабильную операционную систему, простоту эксплуатации и полную ...

Показать другие изделия
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation
оптический микроскоп
оптический микроскоп
AxioVert A1 MAT

Вес: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Длина: 560 mm
Ширина: 235, 220 mm

... Ваш обычный инвертированный микроскоп для материаловедения. Микроструктурный и структурный анализ: Вопрос контраста. С помощью Axio Vert.A1 можно исследовать большие и тяжелые образцы, используя широкий спектр классических и современных ...

Показать другие изделия
Hitech Instruments
оптический микроскоп
оптический микроскоп
BINO TIG

Увеличение : 0,7 unit - 4 unit
Высота: 60 cm

... Универсальный бинокль TIG для безопасной и точной сварки Бинокль TIG может быть адаптирован к сварочным аппаратам всех типов и марок, предлагая универсальное решение как для профессионалов, так и для энтузиастов. Оснащенный затемняющим ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки