- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для материалов
Микроскопы для материалов
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}


электронный сканирующий микроскопSU3800/3900 Family
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются ...

... Исследуйте, разрабатывайте и анализируйте материалы, особенно металлографические образцы, в кратчайшие сроки с помощью ZEISS Axio Observer. Воспользуйтесь преимуществами его перевернутой конструкции. Axio Observer сочетает в себе качество ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

... Приборы семейства EVO сочетают в себе высокопроизводительную сканирующую электронную микроскопию с интуитивно понятным и удобным интерфейсом, привлекательным как для опытных микроскопистов, так и для начинающих пользователей. Благодаря ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

... Сочетайте возможности получения изображений и аналитические характеристики сканирующего электронного микроскопа с высоким разрешением (FE-SEM) с возможностями обработки сфокусированным ионным пучком (FIB) нового поколения. Вы можете работать ...
ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
Вес: 137 g
... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций Dino-Lite AM7915MZT - это чудо техники и лучший выбор для требовательных профессионалов. Dino-Lite AM7915MZT предлагает превосходное качество ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV

Увеличение : 20 unit - 220 unit
Пространственное разрешение: 650 nm
... Благодаря использованию новейшей оптики, новой 5-мегапиксельной матрице и ряду специальных функций, таких как гибкое управление светодиодами (FLC) и полностью алюминиевый корпус, Dino-Lite AM7115MZT - это чудо техники и лучший выбор для ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV

Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 120 kg
Длина: 130 mm
... Расширяя границы возможностей портативной цифровой микроскопии, 8-мегапиксельный AM8917MZT представляет собой цифровой микроскоп высокого разрешения, способный выявить мельчайшие детали объекта. Микроскоп также обеспечивает исключительную ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости ...
CIQTEK Co., Ltd.

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...
CIQTEK Co., Ltd.

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для ...
CIQTEK Co., Ltd.

Увеличение : 50 unit - 1 000 unit
... оснащение ярким полем, поляризацией (опционально), метод наблюдения, большое поле зрения, высокое разрешение. Система освещения Kohler, освещение принимает 30W галогенную лампу или светодиодный свет с длительным сроком службы; электрическая ...

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой ...

... 1. Применение Металлографический микроскоп HL401W - это тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп, который может обеспечить превосходное качество изображения и стабильную операционную систему, простоту эксплуатации и полную ...
Shanghai Hualong Test Instruments Corporation

Вес: 10,5, 12,3, 11,7, 10,3 kg
Длина: 560 mm
Ширина: 235, 220 mm
... Ваш обычный инвертированный микроскоп для материаловедения. Микроструктурный и структурный анализ: Вопрос контраста. С помощью Axio Vert.A1 можно исследовать большие и тяжелые образцы, используя широкий спектр классических и современных ...
Hitech Instruments


оптический микроскопBINO TIG
Увеличение : 0,7 unit - 4 unit
Высота: 60 cm
... Универсальный бинокль TIG для безопасной и точной сварки Бинокль TIG может быть адаптирован к сварочным аппаратам всех типов и марок, предлагая универсальное решение как для профессионалов, так и для энтузиастов. Оснащенный затемняющим ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось