＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
Вес: 75 kg
... традиционных сканирующих электронных микроскопов, что позволяет выполнять анализы за меньшее время. Встроенные функции автоматизации системы еще больше повышают удобство ее использования, значительно сокращая время работы ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Вес: 75 kg
... преимущества отчасти благодаря своему источнику электронов. В нем используется полевая эмиссионная пушка, в которой небольшое электромагнитное поле извлекает электроны из источника. Это позволяет лучше контролировать ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,7, 0,8, 1 nm
Ширина: 340 mm
... сканирующую просвечивающую электронную микроскопию (STEM), крио-SEM, корреляционную световую и электронную микроскопию (CLEM) и энергодисперсионную рентгеновскую спектроскопию (EDS). Основные ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,3 nm - 1,5 nm
Вес: 500 g
... удовлетворения потребностей исследователей и инженеров в области материаловедения в широком спектре применений сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) - даже для самых сложных образцов. Helios ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1,2, 0,6, 1, 0,7 nm
... Сканирующий электронный микроскоп с плазменным сфокусированным ионным пучком для подготовки образцов ТЭМ, включая 3D-характеристики, поперечное сечение и микрообработку. Thermo Scientific Helios 5 Plasma FIB (PFIB) DualBeam ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
... Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп для визуализации и спектроскопии чувствительных к пучку материалов. Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Spectra Ultra Чтобы ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки