Электронный сканирующий микроскоп Verios 5 XHR

метрологиидля испытания материаловдля полупроводника

Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во всем диапазоне энергий от 1 кэВ до 30 кэВ с превосходным контрастом материалов. Беспрецедентный уровень автоматизации и простота в использовании делают эти характеристики доступными для пользователей с любым уровнем опыта. Сканирующая электронная микроскопия характеристик - Получение изображений наноматериалов с высоким разрешением с помощью монохроматизированного источника электронов UC+, обеспечивающего субнанометровую производительность в диапазоне 1-30 кВ. - Высокий контраст на чувствительных материалах с превосходной производительностью до энергии посадки 20 эВ и высокочувствительными детекторами в колонке и под линзой, а также фильтрацией сигнала для работы в условиях низкой дозы и оптимального выбора контраста. - Значительное сокращение времени получения наноразмерной информации для пользователей с любым уровнем опыта с помощью электронной колонки Elstar, оснащенной технологиями SmartAlign и FLASH. - Последовательные результаты измерений благодаря линзам ConstantPower, электростатическому сканированию и выбору из двух пьезоэлектрических ступеней. - Гибкость для аксессуаров с большой камерой. - Работа РЭМ без присмотра с помощью Thermo Scientific AutoScript 4 Software - дополнительного интерфейса прикладного программирования на основе языка Python Технология SmartAlign Технология SmartAlign устраняет необходимость выравнивания колонны электронов пользователем, что не только минимизирует техническое обслуживание, но и повышает производительность.