Микроскоп для батареи Phenom ParticleX

SEMдля анализовдля контроля качества

Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования батарей. Анализ передовых материалов для батарей Настольный СЭМ Phenom предназначен для анализа материалов батарей При производстве и исследовании батарей качество материалов становится критически важным. Например, небольшие загрязнения в порошке NCM могут иметь катастрофические последствия для конечного продукта. Для эффективного отслеживания этих загрязнений необходимо использовать СЭМ-изображение высокого разрешения с EDS-анализом для химического анализа. При полной автоматизации эта комбинация является мощным инструментом для проверки качества порошка. Основные характеристики Phenom ParticleX Battery Desktop SEM Классификации проводимости Каждый класс частиц может быть помечен проводимостью частиц, что позволяет сортировать частицы по проводимости. Это позволяет гораздо точнее оценить влияние загрязнения, поскольку небольшое органическое загрязнение не так серьезно, как металлическое проводящее загрязнение. Тернарная диаграмма Для просмотра общего химического состава популяции частиц можно построить троичную диаграмму, на которой представлены все частицы. При расположении Ni, Co и Mn на каждой оси можно мгновенно увидеть внешние и общие тенденции.