Микроскоп SEM Phenom ParticleX AM

для анализовдля измеренийдля контроля качества

Настольная РЭМ для анализа аддитивного производства, способная наблюдать большие образцы размером до 100 мм x 100 мм. Анализ аддитивного производства Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom ParticleX - это многоцелевой настольный СЭМ, предназначенный для аддитивного производства, обеспечивающий чистоту в микромасштабе. Он оснащен достаточно большой камерой для анализа образцов размером до 100 мм x 100 мм. Запатентованный механизм вентиляции и загрузки обеспечивает самый быстрый в мире цикл вентиляции/загрузки, обеспечивая высочайшую пропускную способность. С помощью настольного СЭМ Phenom ParticleX AM вы можете взять под собственный контроль свои данные: -контролировать критические характеристики металлических порошков -Улучшить процессы аддитивного производства в порошковой ванне и с порошковым питанием -идентифицировать распределение частиц по размерам, морфологию отдельных частиц и инородные частицы Особенности Phenom ParticleX AM AM Desktop SEM РЭМ-анализ частиц Настольный РЭМ Phenom ParticleX AM оснащен камерой с точным и быстрым моторизованным столом, который позволяет анализировать образцы размером до 100 мм x 100 мм. Даже при таком большом размере образца запатентованный загрузочный челнок позволяет сократить цикл вентиляции/загрузки до лучшего в отрасли времени загрузки - 60 секунд или менее, что в конечном итоге обеспечивает более высокую производительность по сравнению с другими системами РЭМ. Испытания в аддитивном производстве Phenom ParticleX AM Desktop SEM измеряет различные параметры размера и формы, такие как минимальный и максимальный диаметр, периметр, соотношение сторон, шероховатость и диаметр ферета. Все эти параметры могут отображаться с 10%, 50% или 90% значениями (т.е. d10, d50, d90).