Микроскоп SEM Phenom ParticleX AM

для анализовдля измеренийдля контроля качества

Если вы хотите повысить качество и точность испытаний порошков для аддитивного производства за счет более детального анализа и точного измерения размеров, вам поможет настольный СЭМ Thermo Scientific Phenom ParticleX AM. С его помощью можно анализировать критические характеристики металлических порошков на микроуровне как в порошковом слое, так и в процессе аддитивного производства (AM). Кроме того, он позволяет работать с 49 образцами одновременно. Но что действительно отличает эту систему, так это встроенное программное обеспечение Thermo Scientific Perception, которое автоматически находит и идентифицирует мусор, сферические или вытянутые частицы и другие частицы, подтверждая тем самым качество порошка. Затем оно предоставляет краткие промышленные отчеты, которые превращают необработанные данные в четкие и объективные ответы для вас и вашей команды. Настольный РЭМ Phenom ParticleX AM поставляется со встроенной энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (EDS) для расширенного анализа состава. Также можно добавить детектор вторичных электронов (SED), который собирает низкоэнергетические электроны с верхнего поверхностного слоя образца для получения подробной информации о поверхности. обзор Уверенное соответствие промышленным стандартам качества Настольный РЭМ Phenom ParticleX AM позволяет анализировать состав и размер частиц, а также параметры формы (диаметр, периметр, соотношение сторон, шероховатость и диаметр Ферета) - и все это на микроуровне и с гораздо большей точностью, чем другие технологии. Лучшая в отрасли производительность Настольный СЭМ Phenom ParticleX AM обеспечивает высокую производительность, что позволяет вам делать больше с помощью микроскопа и увеличивать время производственного цикла.