Микроскоп SEM Phenom ParticleX TC

для анализовмногоцелевойдля письменного стола

Анализ чистоты компонентов с помощью многоцелевой настольной РЭМ. Настольный РЭМ для анализа чистоты компонентов Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM - это многоцелевой настольный РЭМ, позволяющий проводить анализ технической чистоты в микромасштабе. Определение характеристик материалов Настольный РЭМ Phenom ParticleX - это универсальное решение для высококачественного анализа на собственном производстве, позволяющее быстро выполнять характеризацию, проверку и классификацию материалов, обеспечивая производство быстрыми, точными и достоверными данными. Система проста в эксплуатации и быстро осваивается, открывая возможности анализа частиц и материалов для более широкого круга пользователей. Основные характеристики Техническая чистота В связи с растущим спросом на анализ мелких частиц, выходящих за рамки световой микроскопии в (автомобильной) промышленности, настольная СЭМ Phenom ParticleX TC (Technical Cleanliness) позволяет проводить автоматизированную сканирующую электронную микроскопию с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (EDS). Это является основным преимуществом по сравнению со световой микроскопией, поскольку позволяет проводить химическую классификацию частиц, обеспечивая глубокое понимание производственных процессов и/или окружающей среды. Имеются стандартные отчеты в соответствии с VDA 19 / ISO 16232 или ISO 4406/4407. Детектор вторичных электронов Настольный СЭМ Phenom ParticleX TC (Техническая чистота) может быть оснащен детектором вторичных электронов (SED) в качестве опции. SED собирает низкоэнергетические электроны с верхнего поверхностного слоя образца. Поэтому он является идеальным выбором для выявления подробной информации о поверхности образца. SED может быть очень полезен в тех случаях, когда важны топография и морфология.