Микроскоп с рентгеновским излучением Phenom ParticleX TC
многоцелевойдля анализовпромышленный

Микроскоп с рентгеновским излучением - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - многоцелевой / для анализов / промышленный
Микроскоп с рентгеновским излучением - Phenom ParticleX TC - THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE - многоцелевой / для анализов / промышленный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению

Характеристики

Тип
с рентгеновским излучением
Применение
для анализов, промышленный, многоцелевой
Конфигурация
для письменного стола, компактный
Источник электронов
CeB6
Тип детектора
обратно-рассеянных электронов, вторичных электронов
Другие характеристики
автоматизированный, для топографии
Увеличение

МАКС.: 200 000 unit

МИН.: 160 unit

Пространственное разрешение

МАКС.: 10 nm

МИН.: 0 nm

Вес

75 kg
(165,3 lb)

Ширина

316 mm
(12,4 in)

Высота

625 mm
(24,6 in)

Описание

Поддерживать чистоту в промышленных условиях - задача не из легких, особенно в таких сложных производственных условиях, как автомобильная промышленность. По сравнению с традиционными оптическими микроскопами, наш настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom ParticleX TC не только позволяет проводить более детальный анализ состава на микроуровне, но и позволяет надежно обнаруживать и анализировать полупрозрачные частицы, такие как стекло, которые часто не замечаются другими системами. Но что действительно отличает эту компактную систему, так это встроенное программное обеспечение Thermo Scientific Perception Automation Software, которое автоматически анализирует и идентифицирует твердые частицы, такие как SiO2 или корунд, которые могут увеличить скорость износа таких изделий, как коробки передач. Затем программное обеспечение Perception сопоставляет количество и тип найденных частиц с соответствующими спецификациями чистоты. Наконец, Phenom ParticleX TC Desktop SEM предоставляет краткие промышленные отчеты, которые превращают необработанные данные в четкие и беспристрастные ответы для вас и вашей команды, что позволяет вам соблюдать требования к качеству, включая немецкие стандарты VDA. Эта система также оснащена встроенной энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (EDS) для расширенного анализа состава. Кроме того, вы можете добавить детектор вторичных электронов (SED) для сбора низкоэнергетических электронов с верхнего поверхностного слоя образца, что идеально подходит для получения подробной информации о поверхности образца. Уверенное соответствие промышленным стандартам качества Эта система поможет вам ответить на актуальный вопрос: Достаточно ли чист мой продукт? По сравнению с оптической микроскопией, она повышает ставки как по качеству изображения, так и по объему анализа частиц, обеспечивая уверенность в результатах.

---

ВИДЕО

Каталоги

Phenom ParticleX TC
Phenom ParticleX TC
6 Страницы

Другие изделия THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE

Desktop scanning electron microscopes

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.