Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) ZEISS GeminiSEM
для исследованийпромышленныйвысококонтрастный

Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - ZEISS GeminiSEM  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - для исследований / промышленный / высококонтрастный
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - ZEISS GeminiSEM  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - для исследований / промышленный / высококонтрастный
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - ZEISS GeminiSEM  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - для исследований / промышленный / высококонтрастный - изображение - 2
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - ZEISS GeminiSEM  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - для исследований / промышленный / высококонтрастный - изображение - 3
Микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM) - ZEISS GeminiSEM  - ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle - для исследований / промышленный / высококонтрастный - изображение - 4
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
с полевой эмиссией катода (FESEM)
Применение
для исследований, промышленный
Другие характеристики
для обнаружения, высококонтрастный
Пространственное разрешение

0,7 nm, 1,2 nm

Описание

ZEISS GeminiSEM - это легкая визуализация с субнанометровым разрешением. Эти FE-SEM (полевые эмиссионные сканирующие электронные микроскопы) сочетают в себе превосходство в визуализации и аналитике. Инновации в области электронной оптики и новая конструкция камеры позволяют получить лучшее качество изображения, удобство использования и гибкость. Получайте субнанометровые изображения при напряжении ниже 1 кВ без иммерсионного объектива. Откройте для себя три уникальных дизайна электронной оптики ZEISS Gemini. Идеально подходит для основных установок - ZEISS GeminiSEM 360 Обеспечение эффективного анализа - ZEISS GeminiSEM 460 Новый стандарт для визуализации поверхностей - ZEISS GeminiSEM 560 Получите преимущества от визуализации поверхности и собирайте информацию при низком напряжении или высоком токе зонда. Откройте для себя преимущества обнаружения Inlens, NanoVP, контекстного просмотра изображений или сегментации на основе искусственного интеллекта Плавно переходите от работы при низком токе и низком кВ к работе при высоком токе и высоком кВ. Расширьте свои возможности с помощью лаборатории нагрева и растяжения in situ. Воспользуйтесь преимуществами копланарной конфигурации EDS/EBSD, отображения данных EDS без теней и быстрого сбора карт EBSD со скоростью 4000 шаблонов/с. Познакомьтесь с новым стандартом визуализации поверхности: визуализация без магнитного поля с разрешением менее 1 нм при напряжении ниже 1 кВ без смещения образца или монохроматизации, Gemini 3 с новым электронно-оптическим двигателем Smart Autopilot, поиск оптимальных условий работы и многое другое.

---

ВИДЕО

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги ZEISS Métrologie et Microscopie Industrielle
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.