Оптический микроскоп ECLIPSE L300N series

для контролядля электронной промышленностипрямой

Микроскопы Nikon ECLIPSE L300ND, L300N и L200ND, L200NA - это серия полупроводниковых микроскопов, идеально подходящих для контроля интегральных схем (IC), плоскопанельных дисплеев (FPD), электронных устройств с крупномасштабной интеграцией (LSI) и многих других применений. Передовые полупроводниковые микроскопы для контроля новейших изделий Превосходная оптика Nikon CFI60-2 обеспечивает превосходное изображение на оба окуляра, а также на цифровые камеры Nikon с программным обеспечением для анализа. Сочетание этой превосходной оптики с исключительной системой освещения позволяет получать изображения с превосходной контрастностью и разрешением. Nikon ECLIPSE L300N(D) и L200N(D) Эти микроскопы предназначены для исключительно точного оптического контроля пластин (200 мм для серии L200N и 300 мм для серии L300N), ридикюлей и других подложек. Оптическая серия Nikon CFI60-2 Инновационная конструкция Nikon позволяет использовать четкие методы получения изображений, включая высококонтрастные, яркопольные, темнопольные, поляризационные (POL), дифференциальный интерференционный контраст (DIC) и двухлучевую интерферометрию оптического контраста. Цифровые прицельные камеры Nikon Полный ассортимент камер Nikon Digital Sight позволяет эффективно получать изображения образца и передавать их в программное обеспечение для обработки изображений пакета NIS-Elements вместе с данными микроскопа об используемом объективе, настройке увеличения и интенсивности света. Интеграция L200N и загрузчика пластин NWL200 Загрузчики пластин Nikon хорошо приняты и пользуются доверием в полупроводниковой промышленности, и многие из них используются в настоящее время.