Цифровой микроскоп Eclipse LV150NA

для контроляпромышленныйпрямой

Серия гибких, модульных, вертикальных микроскопов для различных методов эпископического оптического контраста (BF-DF-DIC-POL-флуоресценция-интерферометрия). Вместе с аксессуарами для цифровой визуализации и большими перемещениями по X-Y, приборы идеально подходят для инспекции полупроводников и материалов. Модульные, моторизованные и ручные вертикальные микроскопы Превосходная оптика Nikon CFI60-2 обеспечивает превосходное изображение как для окуляров, так и для цифровых камер Nikon с программным обеспечением для анализа. Благодаря модульной конструкции универсальный микроскоп позволяет использовать дополнительные методы оптического контраста на одной стойке микроскопа. Nikon ECLIPSE LV150NA и LV150N Эти микроскопы с эпископическим освещением предназначены для контроля полупроводников, промышленных материалов и компонентов. Они также подходят для исследований и разработок. Оптическая серия Nikon CFI60-2 Инновационная конструкция Nikon позволяет использовать четкие методы получения изображений, включая высококонтрастные, яркопольные, темнопольные, поляризационные (POL), интерференционно-контрастные (DIC) и оптический контраст с двухлучевой интерферометрией. Цифровые прицельные камеры Nikon Полный ассортимент камер Nikon Digital Sight позволяет получать изображения образца и передавать их в программное обеспечение для обработки изображений пакета NIS-Elements вместе с данными микроскопа об объективе, настройке увеличения и интенсивности освещения при использовании контроллера LV-ECON E. Интеграция LV150N и загрузчика пластин NWL200 Загрузчики пластин компании Nikon хорошо приняты и пользуются доверием в полупроводниковой промышленности, и многие из них используются уже сегодня.