- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для выравнивания
Микроскопы для выравнивания
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
микроскоп с рентгеновским излучениемApreo ChemiSEM
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Система Thermo Scientific Apreo ChemiSEM обеспечивает всестороннее нанометровое или субнанометровое разрешение при аналитическом рабочем расстоянии 10 мм. Ее источник - полевая эмиссионная пушка (ПЭП) - позволяет анализировать широкий спектр чувствительных ...
микроскоп с рентгеновским излучениемZEISS XRADIA Context microCT
... Микрокомпьютерный томограф (микроКТ) ZEISS Xradia Context® - это простая в использовании система для анализа всех типов образцов. Детектор с высокой решеткой обеспечивает высокое разрешение мелких деталей даже при относительно большом объеме изображения. ...
... Вы можете объединить возможности inVia со сканирующими зондовыми микроскопами (СЗМ и АСМ) для исследования состава, структуры и свойств материалов в нанометровом масштабе. Выберите лучшую систему Система inVia отличается невероятной гибкостью; компания ...
электронный сканирующий микроскопJSM-IT810
... Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией с помощью серии FE-SEM JSM-IT810. Встроенная автоматизация визуализации и анализа EDS без кодирования обеспечивает оптимизированный и эффективный рабочий процесс. Доступны ...
Увеличение : 40 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm - 8 nm
Вес: 120 kg
... Обзор
- Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными
... Биологи, физики и материаловеды по всему миру считают Nanosurf FlexAFM идеальным инструментом для своих исследований. Этот атомно-силовой микроскоп разработан как универсальный, настраиваемый и удобный в использовании, что делает его предпочтительным ...
... Биологический бинокль LB-220 со светодиодной подсветкой является экономичным, практичным и простым в эксплуатации биноклем, широко используемым в образовательной, научной, сельскохозяйственной и учебной областях. Новый обрабатывающий центр и передовые ...
Labomed INC
... Описание: FIM-4 Fiber Microscope Probe оснащен функцией USB для прямого подключения ноутбука или ПК, которая включает датчик изображения внутри датчика для проверки в реальном времени, не требуя дополнительного кабеля питания и драйвера. Он также может ...
Shanghai Grandway Telecom Tech Co. Ltd
Вес: 12 kg
... Серия VHX-7000 представляет собой полностью автоматизированную систему, которая позволяет даже начинающим пользователям получать изображения высокого разрешения, не уступающие по качеству изображениям, полученным с помощью сканирующего электронного микроскопа ...
Увеличение : 30 unit
Длина: 152 mm
... Телескоп Объектив : 40 мм Изображение: прямое Поле зрения: 1*30" Разрешающая способность: 2.5" Минимальная фокусировка: lm Коэффициент стадности : 100 Постоянная стадия : 0 Электронное измерение угла Метод : Абсолютный Детектирование : Горизонтальное ...
... Автоматизированная проверка и анализ одноволоконных и многоволоконных разъемов Инспекционный зондовый микроскоп INX™ 760 (INX 760) обеспечивает беспрецедентную эффективность в обеспечении безупречного качества одноволоконных, дуплексных или многоволоконных ...
Пространственное разрешение: 0,05, 0,2 nm
Конструкция «все в одном», продуманная структура и форма. Сканирующая головка и предметный столик для образцов спроектированы вместе, обладают сильными антивибрационными характеристиками. Точное лазерное обнаружение и устройство выравнивания зонда упрощают ...
Chengyu Testing Equipment Co.,Ltd
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo