- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- 3-осный микроскоп
3-осные микроскопы
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Вес: 990 kg
Ширина: 1 190 mm
Высота: 1 800 mm
... Hitachi NP6800 - это специализированная измерительная система на базе РЭМ, разработанная для удовлетворения аналитических потребностей полупроводниковых устройств с 10-нм технологическим узлом и выше. Прецизионный привод с пьезоэлектрическим ...
Пространственное разрешение: 0,1 nm
Вес: 159, 284 kg
Длина: 1 024, 762 mm
... позволяет проводить измерения на субмикронном уровне с минимальной погрешностью. Удобное для пользователя высокоточное измерение по 3 осям Поскольку современные производственные технологии становятся все более миниатюрными ...
... Нобелевская премия по химии 2014 года). Полностью интегрированные системы STED (STimulated Emission Depletion) Leica TCS SP8 STED 3X и Leica TCS SP8 STED ONE отвечают требованиям ежедневных исследований и обеспечивают ...
... Leica DM1000 LED имеет долговечную светодиодную подсветку, которая обеспечивает ближний дневной свет, яркую подсветку с постоянной цветовой температурой и излучает меньше тепла. Светодиод также устраняет необходимость замены лампы, что ...
Увеличение : 10 unit - 1 000 unit
Длина: 750 mm
Ширина: 700 mm
... — помогает завершить измерения быстрее. Hawk Duo также может выполнять быстрые программируемые рутинные измерения с помощью 3-осевого ЧПУ. Крупные объекты Достаточно большое пространство для измерений — 200 x 150 ...
... или ЧПУ - наши два пакета измерительного программного обеспечения, SAPHIR и M3, доступны в обоих случаях. В классе начального уровня измерительное программное обеспечение M3 устанавливает стандарты интуитивного ...
... при высочайшей точности измерений WM1 400 (300) CNC / WM1 400 (300) M3 CNC - Программное обеспечение для измерений и анализа SAPHIR или программное обеспечение для измерений M3 - 3-осевая ...
Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm
... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, ...
Nikon Metrology
Увеличение : 50, 100, 200, 400 unit
Пространственное разрешение: 1 000, 5 000 nm
Вес: 45 kg
... Оптическая система CCIS Окуляр WF lox (ø25 мм) WF 1 Ox (ø20 мм) с перекрестием 0,01 мм/дел Ахроматические объективы с большим рабочим расстоянием PL L 5x/O.15 WD=4400мм PL L IOW030 WD=3400мм PL L 20W035 WD=3000мм PL L 40WO.35WD=30.OOmm Наклон ...
... Использование Измерительные металлургические микроскопы серии INSPECT широко используются в полупроводниковых корпусах, паяльных пастах, на высоте петли, FPD панелях (LCM), на уровне пластин CSPS и так далее. Особенности: Высокоточное ...
Пространственное разрешение: 1 nm
... светодиодными функциями с помощью открытого программного обеспечения µManager или с помощью программируемого джойстика X-JOY3 * Доступные пользовательские версии ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось