- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для топографии
Микроскопы для топографии
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 160 unit - 175 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 15 nm
... Экономичный и простой в использовании настольный SEM с надежными функциями автоматизации. Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom Pure - идеальный инструмент для перехода от светооптической к электронной ...
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
... Анализ чистоты компонентов с помощью многоцелевой настольной РЭМ. Настольный РЭМ для анализа чистоты компонентов Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM - это многоцелевой настольный РЭМ, позволяющий проводить анализ технической ...
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Пространственное разрешение: 1,2 nm
... Инновационный аналитический FE-SEM обеспечивает простой переход между режимом высокого вакуума и переменного давления. EM Wizard - это основанная на знаниях система для визуализации РЭМ, которая выходит за рамки базовых предустановленных ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать многие операции и эффективно ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... Цифровой микроскоп для анализа отказов, обеспечения и контроля качества, исследований и разработок или криминалистики. Превосходная оптика, интуитивно понятное управление и интеллектуальное программное обеспечение позволяют пользователю ...
Вес: 9,5 kg
Длина: 362 mm
Ширина: 251 mm
... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации ...
Nikon Metrology
Пространственное разрешение: 5 nm - 100 000 nm
... Компактный исследовательский AFM с оптимальным соотношением цены и качества CoreAFM является результатом интеллектуального объединения основных компонентов AFM для достижения максимальной универсальности и удобства использования. Благодаря ...
Nanosurf
... Гибкое универсальное измерительное решение MarSurf CM explorer - это компактный конфокальный микроскоп для точного трехмерного измерения и анализа поверхностей - бесконтактного, независимого от материала и быстрого. Гибкое универсальное ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось