Оптический микроскоп CM EXPLORER

для измеренийконфокальный3D

Правильное, воспроизводимое измерение Данные измерений надежно регистрируются и могут быть воспроизведены. Кроме того, гарантируются высочайшее качество исходных данных и точность профиля. Широкий диапазон обрабатываемых деталей Интуитивное управление Простой пользовательский интерфейс с автоматическими режимами для всех значимых параметров измерений, в том числе использование протоколов измерений для известных поверхностей. Области применения Машиностроение Качественная и количественная оценка шероховатости, геометрии и объемного износа Электронная и полупроводниковая промышленность Проверка компонентов вплоть до субмикрометрового диапазона для бездефектных изделий Медицинская техника Контроль качества поверхности медицинских изделий на производстве и в лабораториях Материаловедение Оптимизация функциональных свойств новых поверхностей и изделий Микросистемная технология Измерение сложной геометрии поверхности мельчайших компонентов с точностью до нанометра