Оптический микроскоп INX™ 760

для контроляавтоматизированныйдля выравнивания

Автоматизированная проверка и анализ одноволоконных и многоволоконных разъемов Инспекционный зондовый микроскоп INX™ 760 (INX 760) обеспечивает беспрецедентную эффективность в обеспечении безупречного качества одноволоконных, дуплексных или многоволоконных соединений. Оптимизированный для использования в полевых условиях и поддерживающий технологию VIAVI TPA™ (Test Process Automation), микроскоп INX 760 позволяет автоматизировать каждый этап процесса проверки, включая настройку теста, конфигурацию наконечника, панорамирование и фокусировку изображения, тестирование анализа торцевых поверхностей и хранение данных. Ключевые особенности Система True Automated Inspection обеспечивает самый быстрый в отрасли рабочий процесс для пользовательских приложений, автоматизирующий каждый этап процесса контроля. AutoID Inspection Tips устраняет ошибки, связанные с ручной настройкой или настройкой RFID при смене наконечников. PanOptic Imaging Engine обеспечивает поле зрения от края до края без ущерба для увеличения и качества разрешения. INX 760 поддерживает технологию VIAVI TPA, обеспечивая выравнивание, эффективность и точность на каждом этапе работы с помощью автоматизации процесса тестирования.