Микроскоп с рентгеновским излучением ZEISS Xradia Ultra

для лабораторий3Dвысокое разрешение

Синхротронная рентгеновская нанотомография позволяет получать неразрушающие 3D-изображения в наномасштабе, но для этого приходится подавать заявки на очень ограниченное время работы пучка. Что, если бы вам больше не нужно было ждать синхротронного времени? Представьте себе, что у вас есть возможности синхротрона в вашей собственной лаборатории. С семейством ZEISS Xradia Ultra у вас под рукой 3D-рентгеновские микроскопы для неразрушающего анализа (XRM), обеспечивающие разрешение наномасштаба с качеством, подобным синхротронному. Выбирайте между двумя моделями: ZEISS Xradia 810 Ultra и ZEISS Xradia 800 Ultra предназначены для получения оптимального качества изображения в наиболее часто используемых приложениях. Неразрушающая визуализация в естественных условиях Наноразмерная трехмерная рентгеновская визуализация с пространственным разрешением до 50 нм и размером вокселей 16 нм 3D и 4D эксперименты in situ Количественная оценка наноструктур и использование данных для моделирования Исследование твердых и мягких материалов Усильте свои исследования с помощью неразрушающей наноразмерной визуализации Используйте уникальную неразрушающую визуализацию для наблюдения за наноразмерными явлениями в их родной среде в 3D. Воспользуйтесь преимуществами единственного прибора, который заполняет пробел между рентгеновскими микроскопами с субмикронным разрешением (такими как ZEISS Xradia Versa) и 3D-изображениями с более высоким разрешением, но разрушительными, например, FIB-SEM Используйте интегрированные решения in situ для выполнения ведущих неразрушающих 3D/4D рентгеновских изображений в вашей лаборатории с разрешением до 50 нм и размером вокселя 16 нм. Ускорьте свои исследования, добавив эти уникальные возможности в свой аналитический портфель. Достижение превосходного контраста и качества изображения Наблюдайте дефекты в 3D, не разрушая образец и не изменяя данные артефактами при нарезке.