＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Проверенный крупнокамерный РЭМ для быстрого получения изображений и анализа материалов Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom XL G3 создает условия для более быстрого и эффективного контроля качества и анализа отказов. Его увеличенная камера вмещает ...
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на компромисс с производительностью ...
Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 2,5, 0,9 nm
... РЭМ Hitachi SU3800SE и SU3900SE представляют собой универсальные решения для получения изображений и анализа в различных областях применения. Эти приборы обеспечивают высокое разрешение изображений, интуитивно понятную навигацию и передовую автоматизацию, ...
Увеличение : 5 unit - 100 unit
Вес: 14 kg
Длина: 271 mm
... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, так ...
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Благодаря подключению по USB 3.0 камера AM73115MZT способна получать плавные и качественные изображения. Оптика серии Edge и специальная функция Flexible LED Control (FLC) делают AM73115MZT лучшим выбором для самых требовательных приложений. Она обеспечивает ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 140 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Благодаря подключению через порт USB 3.0 камера AM73115MZTL способна получать плавные и качественные изображения. Оптика серии Edge и специальная функция Flexible LED Control (FLC) делают AM73115MZTL лучшим выбором для самых требовательных приложений AM73115MZTL ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Dino-Lite AM73915MZT входит в линейку высокоскоростных проекторов с интерфейсом USB 3.0. Она обеспечивает превосходное качество несжатого изображения и цветопередачу в прочном, компактном и привлекательном металлическом корпусе. USB 3.0 добавляет новый ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 40 unit - 400 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
A. KRÜSS Optronic GmbH
... SEM-аналитика высокого разрешения для рутинного определения характеристик материалов, исследований и контроля качества в субмикронном масштабе Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN MIRA с источником эмиссии электронов FEG ...
Tescan GmbH
Увеличение : 40 unit
Вес: 550 g
Высота: 150 mm
... Микроскоп для измерения ширины трещин - это высококачественный микроскоп, предназначенный для измерения ширины трещин в бетонных элементах, каменных стенах и других конструкциях. Микроскоп для измерения ширины трещин оснащен регулируемым ламповым блоком, ...
... Корреляционная микроскопия: Сочетание оптических и рентгеновских данных РЭМ с EDX: JOMESA PSE -Считывает информацию о частицах из базы данных -Быстрый SEM-EDX анализ выбранных частиц -Опционально: Полное сканирование или оптическое сканирование всех ...
Пространственное разрешение: 0,5 µm
... Применение: Он широко используется в механической, измерительной, электронной и легкой промышленности; в университете, институте и метрологическом отделе. Проектор измерительного профиля может определять размеры контура и форму поверхности различных сложных ...
Увеличение : 20 unit
Пространственное разрешение: 0,01 mm
... Ручной микроскоп для мобильного измерения твердости вмятин - Простота использования - Может использоваться в любом положении - Измерение вдавливаний по Виккерсу или Бринеллю - Идеальные аксессуары для портативных твердомеров Бринелля или ударных твердомеров ...
... Металлографический микроскоп 4XC Металлографический микроскоп Данный металлографический микроскоп в основном используется для идентификации металла и анализа внутренней структуры организаций. Это важный прибор, который может быть использован для изучения ...
... TIME-40MW компьютеризированный металлографический микроскоп представляет собой тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп. Этот станок обладает превосходными характеристиками визуализации и удобством эксплуатации, обеспечивая заказчиков экономически ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки