- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для проверки материалов
Микроскопы для проверки материалов
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)Apreo ChemiSEM
... Обзор
Thermo Scientific Apreo ChemiSEM System — аналитический сканирующий электронный микроскоп (SEM), обеспечивающий нано‑ и субнаноразрешение при аналитическом рабочем расстоянии 10 мм. Источник с полем эмиссии (FEG) и продвинутая оптика обеспечивают ...
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Проверенный крупнокамерный РЭМ для быстрого получения изображений и анализа материалов Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom XL G3 создает условия для более быстрого и эффективного контроля качества и анализа отказов. Его увеличенная камера вмещает ...
... «Оцените повышенную эффективность и комфорт в повседневной работе с микроскопом. Микроскоп для исследования материалов Visoria M предназначен для применения в металлургической, электронной и полимерной промышленности, а также в лабораториях материаловедения. ...
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...
Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5, 1,6 nm
... РЭМ Hitachi SU3800SE и SU3900SE представляют собой универсальные решения для получения изображений и анализа в различных областях применения. Эти приборы обеспечивают высокое разрешение изображений, интуитивно понятную навигацию и передовую автоматизацию, ...
Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm
Вес: 107 kg
... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на компромисс с производительностью ...
Вес: 10 kg
Длина: 55,1 cm - 55,1 cm
Ширина: 22,9 cm
... Описание продукта
Nikon ECLIPSE MA100N — компактный модульный инвертированный металлографический микроскоп, разработанный для эпископических оптических контрастных методов и интеграции с цифровыми камерами. Предназначен для рутинного контроля ...
Nikon Metrology
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Благодаря подключению по USB 3.0 камера AM73115MZT способна получать плавные и качественные изображения. Оптика серии Edge и специальная функция Flexible LED Control (FLC) делают AM73115MZT лучшим выбором для самых требовательных приложений. Она обеспечивает ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 140 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Благодаря подключению через порт USB 3.0 камера AM73115MZTL способна получать плавные и качественные изображения. Оптика серии Edge и специальная функция Flexible LED Control (FLC) делают AM73115MZTL лучшим выбором для самых требовательных приложений AM73115MZTL ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Dino-Lite AM73915MZT входит в линейку высокоскоростных проекторов с интерфейсом USB 3.0. Она обеспечивает превосходное качество несжатого изображения и цветопередачу в прочном, компактном и привлекательном металлическом корпусе. USB 3.0 добавляет новый ...
Dino-Lite Europe/IDCP BV
... Обзор прибора
Предназначен для идентификации и анализа микроструктур металлических материалов и сплавов. Применяется в производственных и лабораторных условиях для оценки качества отливок, проверки сырья, анализа металлографической структуры ...
Увеличение : 50 unit - 1 000 unit
Длина: 25 cm
Ширина: 16 cm
... Введение в продукт
Перевернутый металлографический микроскоп WY-E оснащён бесконечно корректированной оптической системой с коррекцией хроматической аберрации (CSIS), что обеспечивает улучшенное качество изображения и повышенное разрешение для ...
Увеличение : 40 unit - 400 unit
... Monocular микроскопы компактны, недороги и идеальны для много применений в лаборатории, преподавательстве и продукции. Твердый вес серии микроскопа обеспечивает стабильность даже в жестких окружающих средах. Прочные механики точности обеспечивают оптимальную ...
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
... Обратный микроскоп MBL3200 специально конструирован для идентификации и анализа биологических веществ и культур. Задачи имеют большое расстояние работы, делая его возможным, например, для того чтобы рассмотреть образцы через дно чашек Петри. С чистосердечным ...
A. KRÜSS Optronic GmbH
Увеличение : 40 unit - 800 unit
... MBL3300 реальный специалист. Это идеальная аппаратура для идентификации и анализа стальных соединений и других металлов. Также идеально для структур металла качественной оценки, анализа сырья и рассматривать следовать термической обработкой. Этот металлургический ...
A. KRÜSS Optronic GmbH
... SEM-аналитика высокого разрешения для рутинного определения характеристик материалов, исследований и контроля качества в субмикронном масштабе Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN MIRA с источником эмиссии электронов FEG ...
Tescan GmbH
Увеличение : 40 unit
Вес: 550 g
Высота: 150 mm
... Микроскоп для измерения ширины трещин - это высококачественный микроскоп, предназначенный для измерения ширины трещин в бетонных элементах, каменных стенах и других конструкциях. Микроскоп для измерения ширины трещин оснащен регулируемым ламповым блоком, ...
... Корреляционная микроскопия: Сочетание оптических и рентгеновских данных РЭМ с EDX: JOMESA PSE -Считывает информацию о частицах из базы данных -Быстрый SEM-EDX анализ выбранных частиц -Опционально: Полное сканирование или оптическое сканирование всех ...
Увеличение : 20 unit
Пространственное разрешение: 0,01 mm
... Ручной микроскоп для мобильного измерения твердости вмятин - Простота использования - Может использоваться в любом положении - Измерение вдавливаний по Виккерсу или Бринеллю - Идеальные аксессуары для портативных твердомеров Бринелля или ударных твердомеров ...
... Металлографический микроскоп 4XC Металлографический микроскоп Данный металлографический микроскоп в основном используется для идентификации металла и анализа внутренней структуры организаций. Это важный прибор, который может быть использован для изучения ...
... TIME-40MW компьютеризированный металлографический микроскоп представляет собой тринокулярный вертикальный металлографический микроскоп. Этот станок обладает превосходными характеристиками визуализации и удобством эксплуатации, обеспечивая заказчиков экономически ...
Увеличение : 30 unit - 100 unit
Вес: 160 g
Длина: 13,7 cm - 18 cm
... Обзор
Портативная серия варьируемых зум‑микроскопов для полевых проверок и близкого визуального контроля. Доступны две модели: TS‑SP‑01 (30x–50x) и TS‑SP‑02 (70x–100x). Компактная, лёгкая конструкция с интегрированной светодиодной подсветкой, ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки