- Продукция
- Каталоги
Микроскоп EDX PSEдля проверки материаловкорреляционный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- EDX
- Применение
- для проверки материалов
- Другие характеристики
- корреляционный
Описание
Корреляционная микроскопия: Сочетание оптических и рентгеновских данных
РЭМ с EDX: JOMESA PSE
-Считывает информацию о частицах из базы данных
-Быстрый SEM-EDX анализ выбранных частиц
-Опционально: Полное сканирование или оптическое сканирование всех частиц
-Сохраняет результаты в базе данных
---
Расширенный поиск
- Жидкостный разделительный фильтр
- Микроскоп
- Микроскоп для контроля
- Предфильтр легкой очистки
- Разделительный фильтр самоочищающийся
- Стереомикроскоп
- Оптический стереомикроскоп
- Фильтр с капсулой
- Мембранный фильтр
- Стереомикроскоп с увеличением
- Стереомикроскоп для лабораторий
- Стереомикроскоп для контроля
- Нейлоновый фильтр
- Промышленный стереомикроскоп
- Микроскоп для проверки материалов
- Стереомикроскоп для анализов
- Фильтр из полиамида
- Медицинский стереомикроскоп
- Микроскоп с рентгеновским излучением
- Фильтр из целлюлозного волокна
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.