Микроскоп SEM MIRA

для контроля качествадля исследованийдля проверки материалов

SEM-аналитика высокого разрешения для рутинного определения характеристик материалов, исследований и контроля качества в субмикронном масштабе Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) четвертого поколения TESCAN MIRA с источником эмиссии электронов FEG Schottky сочетает в одном окне программного обеспечения TESCAN Essence™ получение СЭМ-изображений и анализ элементного состава в реальном времени. Это сочетание значительно упрощает получение как морфологических, так и элементарных данных из образца, делая MIRA SEM эффективным аналитическим решением для рутинного контроля материалов в лабораториях контроля качества, анализа неисправностей и исследований. - Аналитическая платформа с полностью интегрированной системой TESCAN Essence™ EDS, которая эффективно сочетает в одном окне программного обеспечения Essence™ визуализацию СЭМ и анализ элементного состава. - Оптимальные условия для получения изображений и анализа сразу же становятся доступными благодаря уникальной безапертурной оптической конструкции TESCAN, основанной на технологии In-flight Beam Tracing™. - Легкая и точная СЭМ-навигация на образце при увеличении до 2× без использования дополнительной оптической навигационной камеры благодаря уникальной конструкции Wide Field Optics™. - Режим SingleVac™ в качестве стандартной функции для наблюдения заряженных и чувствительных к лучу образцов. - Интуитивно понятное и модульное программное обеспечение Essence™, разработанное для легкой работы независимо от уровня опыта пользователя. - Максимальная безопасность детекторов, установленных в камере, когда столик и образец находятся в движении, гарантируется моделью Essence™ 3D Collision. - Доступны опциональные детекторы в колонках SE и BSE, включая технологию замедления луча для улучшения качества изображения при более низких напряжениях ускорения.