Бесполевой аналитический UHR SEM для характеризации материалов в наноразмерном масштабе
- Бескомпромиссная характеристика всех типов материалов на наноразмерном уровне
- Идеально подходит для характеризации материалов при низких энергиях пучка для максимальной топографии поверхности
- Отличная визуализация лучечувствительных и непроводящих образцов
- Полностью автоматизированная настройка электронного пучка - оптимальные условия съемки гарантированы системой In-Flight Beam Tracing™
- Интуитивно понятная живая СЭМ-навигация на образце при увеличении до 2× без необходимости использования дополнительной оптической навигационной камеры благодаря конструкции Wide Field Optics™
- Уникальная внутрилучевая конструкция мультидетектора, позволяющая угловое и энергетическое селективное обнаружение BSE
- Интуитивно понятная модульная программная платформа, предназначенная для легкой работы вне зависимости от уровня квалификации пользователей
---