Микроскоп SEM CLARA
для проверки материаловнастольныйавтоматизированный

Микроскоп SEM - CLARA - Tescan GmbH - для проверки материалов / настольный / автоматизированный
Микроскоп SEM - CLARA - Tescan GmbH - для проверки материалов / настольный / автоматизированный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
SEM
Применение
для проверки материалов
Конфигурация
настольный
Другие характеристики
автоматизированный, модульный

Описание

Бесполевой аналитический UHR SEM для характеризации материалов в наноразмерном масштабе - Бескомпромиссная характеристика всех типов материалов на наноразмерном уровне - Идеально подходит для характеризации материалов при низких энергиях пучка для максимальной топографии поверхности - Отличная визуализация лучечувствительных и непроводящих образцов - Полностью автоматизированная настройка электронного пучка - оптимальные условия съемки гарантированы системой In-Flight Beam Tracing™ - Интуитивно понятная живая СЭМ-навигация на образце при увеличении до 2× без необходимости использования дополнительной оптической навигационной камеры благодаря конструкции Wide Field Optics™ - Уникальная внутрилучевая конструкция мультидетектора, позволяющая угловое и энергетическое селективное обнаружение BSE - Интуитивно понятная модульная программная платформа, предназначенная для легкой работы вне зависимости от уровня квалификации пользователей

---

Каталоги

Для этого товара не доступен ни один каталог.

Посмотреть все каталоги Tescan GmbH
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.