＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm
... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm
... SU7000 идеально подходит для больших или тяжелых образцов и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение [растяжение] ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Приложения настольного РЭМ Phenom XL G2 Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) нового поколения Thermo Scientific Phenom XL G2 автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая точные, воспроизводимые результаты и высвобождая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm
... Desktop SEM для надежного и легкого анализа SEM, расширяющего ваши исследовательские возможности. Настольный РЭМ Phenom Pro Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom Pro G6 шестого поколения заполняет пробел между световой микроскопией ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm
... Настольный РЭМ с возможностью EDS для надежного, легкого и универсального элементного и РЭМ-анализа. Настольный РЭМ Phenom с энергодисперсионной рентгеновской дифракцией Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom ProX G6 шестого поколения ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Электронная оптика Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE Напряжение ускорения：0,02 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid)：1 ~ 2,500,000 x Тип электронной пушки：Электронная ...
CIQTEK Co., Ltd.
CIQTEK QDAFM Diamond III/IV — это сканирующий NV-центральный микроскоп, основанный на алмазном азотно-вакансионном центре (NV-центре) и технологии сканирующей магнитной визуализации AFM. Магнитные свойства образца определяются количественно ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...
CIQTEK Co., Ltd.
Четкая видимость способствует новым открытиям В настоящее время важными считаются не только разрешение и аналитические характеристики порядка нанометров, но и скорость сбора данных. Новорожденный JSM-IT710HR — это модель четвертого ...
... Уникальное сочетание плазменного FIB и не полевого UHR FE-SEM для многомасштабной характеризации материалов - Высокая производительность, большая площадь обработки FIB до 1 мм - подготовка микрообразца без галактики - Сверхвысокое разрешение, ...
Увеличение : 25 unit - 200 000 unit
Вес: 330 kg
Длина: 835 mm
... FusionScope - это корреляционный АСМ/СЭМ-микроскоп, который был разработан с нуля, чтобы позволить вам легко воспользоваться преимуществами сочетания этих двух методов анализа. Для большинства анализов часто бывает желательно проанализировать ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось