Микроскоп FIB/SEM AMBER Xдля анализовin-lens SEмодульный
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- FIB/SEM
- Применение
- для анализов
- Тип детектора
- in-lens SE
- Другие характеристики
- модульный, ультравысокое разрешение
Описание
Уникальное сочетание плазменного FIB и не полевого UHR FE-SEM для многомасштабной характеризации материалов
- Высокая производительность, большая площадь обработки FIB до 1 мм
- подготовка микрообразца без галактики
- Сверхвысокое разрешение, FEG-SEM изображений и анализа без полей
- Обнаружение In-lens SE и BSE
- Оптимизация разрешения для высокопроизводительной, мультимодальной FIB-SEM томографии
- Превосходное поле обзора для удобства навигации
- Essence™ простой в использовании, модульный графический интерфейс пользователя
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Tescan GmbH
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп для письменного стола
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
- Микроскоп для контроля качества
- Микроскоп для исследований
- Конфокальный микроскоп
- Модульный микроскоп
- Микроскоп режим реального времени
- Микроскоп высокой точности
- Микроскоп SEM
- Высококонтрастный микроскоп
- Микроскоп вторичных электронов
- Микроскоп для проверки материалов
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.