Микроскоп FIB/SEM SOLARISдля исследованийвысокой точностиультравысокое разрешение
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- FIB/SEM
- Применение
- для исследований
- Другие характеристики
- высокой точности, ультравысокое разрешение
Описание
Усовершенствованный верстак для нанопроизводства для вашей исследовательской лаборатории
- Отличное ультра-высокое разрешение изображения SEM
- Лучшее разрешение колонки Ga FIB
- Высокоточный наноразмерный двигатель для электронного и ионного пучка
- Мультигазовая система впрыска с различными газами-прекурсорами
- Простой в использовании модульный программный пользовательский интерфейс
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Tescan GmbH
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп для письменного стола
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
- Микроскоп для контроля качества
- Микроскоп для исследований
- Конфокальный микроскоп
- Модульный микроскоп
- Микроскоп высокой точности
- Микроскоп режим реального времени
- Микроскоп SEM
- Высококонтрастный микроскоп
- Микроскоп вторичных электронов
- Микроскоп для проверки материалов
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.