Микроскоп FIB/SEM AMBERдля анализовдля испытания материаловвысокой точности
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- FIB/SEM
- Применение
- для анализов, для испытания материалов
- Другие характеристики
- высокой точности, ультравысокое разрешение
Описание
Универсальный наноаналитический FIB-SEM для расширения ваших возможностей в области исследований материалов
- Высокоточная микро пробоподготовка
- Сверхвысокое разрешение безполевого изображения SEM и наноанализа
- Расширенное поле зрения и удобная навигация
- Многосайтовая автоматизация процессов
- Мультимодальная FIB-SEM томография
- Простой в использовании модульный программный пользовательский интерфейс
- Привлекательные опциональные пакеты для различных применений
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Tescan GmbH
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп для письменного стола
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
- Микроскоп для контроля качества
- Микроскоп для исследований
- Конфокальный микроскоп
- Модульный микроскоп
- Микроскоп режим реального времени
- Микроскоп высокой точности
- Микроскоп SEM
- Высококонтрастный микроскоп
- Микроскоп вторичных электронов
- Микроскоп для проверки материалов
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.