Микроскопы обратно-рассеянных электронов

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
4 компании | 24 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Phenom XL G3

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm

... Проверенный крупнокамерный РЭМ для быстрого получения изображений и анализа материалов Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom XL G3 создает условия для более быстрого и эффективного контроля качества и анализа отказов. Его увеличенная камера вмещает ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Phenom Pro G6

Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6, 5, 20, 10 nm
Вес: 50 kg

... Настольные РЭМ Thermo Scientific Phenom Pure, Pro и ProX G6 - это экономичные и простые в использовании решения, которые автоматизируют большую часть работы за вас. Каждая модель создана с учетом требований производительности и оснащена источником гексаборида ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп SEM
микроскоп SEM
Phenom ProX G6

Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm

... Автоматическое получение надежных и стабильных результатов на рабочем столе Настольные РЭМ Thermo Scientific Phenom Pure, Pro и ProX G6 - это экономичные и простые в использовании решения, которые автоматизируют большую часть работы за вас. Каждая модель ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Phenom Pure G6

Увеличение : 160 unit - 175 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 15 nm
Вес: 50 kg

... Автоматическое получение надежных и стабильных результатов на рабочем столе Настольные РЭМ Thermo Scientific Phenom Pure, Pro и ProX G6 - это экономичные и простые в использовании решения, которые автоматизируют большую часть работы за вас. Каждая модель ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп для батареи
микроскоп для батареи
Phenom ParticleX

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
Вес: 75 kg

... В быстро меняющемся мире производства и анализа аккумуляторов скорость - это все. Но не менее важен и точный анализ частиц. Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM обеспечивает и то, и другое. Он обеспечивает в 10 раз более высокую производительность, ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Phenom ParticleX TC

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
Вес: 75 kg

... Поддерживать чистоту в промышленных условиях - задача не из легких, особенно в таких сложных производственных условиях, как автомобильная промышленность. По сравнению с традиционными оптическими микроскопами, наш настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный микроскоп
электронный микроскоп
Phenom Pharos G2

Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 10, 3, 2, 200, 400 nm
Вес: 75 kg

... Настольный FEG-SEM Thermo Scientific Phenom Pharos G2 был разработан для того, чтобы помочь вам анализировать мелкие частицы с высоким разрешением и с молниеносной скоростью. Но что не менее важно для занятых руководителей лабораторий, он обеспечивает ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп с рентгеновским излучением
микроскоп с рентгеновским излучением
Axia ChemiSEM

Пространственное разрешение: 7, 3, 8, 20 nm
Вес: 10 kg

... Система Thermo Scientific Axia ChemiSEM была разработана для того, чтобы избавить вас от сложностей микроскопии и помочь вам повысить уровень количественного элементного анализа. Благодаря вольфрамовому источнику и полностью интегрированным возможностям ...

Показать другие изделия
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной оптике ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8700

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем загрязнения и высоким ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU8600

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер холодного поля с почти монохроматическим ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SU7000

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... SU7000 идеально подходит для больших или тяжелых образцов и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение [растяжение] / сжатие, нагрев ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SU3800/3900 Family

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
FlexSEM II

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm

... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на компромисс с производительностью ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп SEM
микроскоп SEM
TM4000PlusIII

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit

... Разработанный как логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, глубиной ...

Показать другие изделия
Hitachi High-Tech Europe GmbH
микроскоп SEM
микроскоп SEM
CEM3000A

Увеличение : 40 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm - 8 nm
Вес: 120 kg

... Обзор

  • Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными
...

микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM5000Pro

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Электронная оптика Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE Напряжение ускорения:0,02 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid):1 ~ 2,500,000 x Тип электронной пушки:Электронная пушка ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM4000Pro

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm

... CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно регулируемым ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
SEM2100

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для образцов Камера: ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM5000X

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm - 1 nm
Вес: 400 kg

... CIQTEK SEM5000X — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с революционным разрешением 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Благодаря обновленному процессу проектирования колонн, технологии «SuperTunnel» ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом
DB550

Пространственное разрешение: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 - это автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с колонкой со сфокусированным ионным лучом для наноанализа и подготовки образцов, который применяется с технологией «SuperTunnel», низкой аберрацией и безмагнитной конструкцией объектива, ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп вольфрамовая нить
микроскоп вольфрамовая нить
SEM 3300

Увеличение : 1 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 2,5 nm - 5 nm
Длина: 926 mm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM3300 SEM *Электронная оптика Разрешение: 2,5 нм при 15 кВ, SE 4 нм при 3 кВ, SE 5 нм @ 1 кВ, SE Ускоряющее напряжение: 0,1 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
HEM6000

Увеличение : 66 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,3 nm
Длина: 1 716 mm

... Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для получения поперечных изображений образцов большого объема CIQTEK HEM6000 использует такие технологии, как высокояркая электронная пушка с большим пучком тока, высокоскоростная система отклонения ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)
SEM4000X

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...

Показать другие изделия
CIQTEK Co., Ltd.
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки