Микроскопы обратно-рассеянных электронов

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,6 nm

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7, 0,6 nm

... Модель SU8600 является преемником хорошо зарекомендовавшего себя семейства полевых эмиссионных РЭМ Regulus и отвечает самым высоким требованиям, предъявляемым к приложениям, ориентированным на получение изображений. Эмиттер холодного ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... SU7000 идеально подходит для больших или тяжелых образцов и для интеграции широкого спектра аксессуаров. К таким принадлежностям относятся аналитические детекторы или насадки для манипуляций с образцами in-situ (растяжение [растяжение] ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются ...

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 15 nm

... FlexSEM II - это настольный/компактный РЭМ для задач визуализации, выходящих за рамки возможностей обычных настольных РЭМ. Это идеальная система для тех, кто не хочет вкладывать деньги в классический РЭМ, но при этом не хочет идти на ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit

... Разработанный как логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm

... Приложения настольного РЭМ Phenom XL G2 Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) нового поколения Thermo Scientific Phenom XL G2 автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая точные, воспроизводимые результаты и высвобождая ...

Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm

... Desktop SEM для надежного и легкого анализа SEM, расширяющего ваши исследовательские возможности. Настольный РЭМ Phenom Pro Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom Pro G6 шестого поколения заполняет пробел между световой микроскопией ...

Увеличение : 160 unit - 350 000 unit
Пространственное разрешение: 8, 6 nm

... Настольный РЭМ с возможностью EDS для надежного, легкого и универсального элементного и РЭМ-анализа. Настольный РЭМ Phenom с энергодисперсионной рентгеновской дифракцией Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom ProX G6 шестого поколения ...

Увеличение : 160 unit - 175 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 15 nm

... Экономичный и простой в использовании настольный SEM с надежными функциями автоматизации. Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Thermo Scientific Phenom Pure - идеальный инструмент для перехода от светооптической к электронной ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования батарей. Анализ передовых материалов для батарей Настольный СЭМ Phenom предназначен для анализа материалов батарей При производстве и исследовании батарей ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... Анализ чистоты компонентов с помощью многоцелевой настольной РЭМ. Настольный РЭМ для анализа чистоты компонентов Thermo Scientific Phenom ParticleX TC Desktop SEM - это многоцелевой настольный РЭМ, позволяющий проводить анализ технической ...

Увеличение : 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 2, 10, 3 nm

... Настольный сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой для получения высококачественных изображений в различных дисциплинах. Сканирующий электронный микроскоп с полевой эмиссионной пушкой Thermo Scientific Phenom Pharos ...

Пространственное разрешение: 3, 8, 7 nm
Вес: 10 kg

... Гибкий, простой в использовании прибор SEM EDS, обеспечивающий мгновенный количественный элементный анализ. СЭМ-изображение и элементный анализ EDS Несмотря на то, что сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) достигла огромных успехов, ...

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Электронная оптика Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE Напряжение ускорения：0,02 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid)：1 ~ 2,500,000 x Тип электронной пушки：Электронная ...

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для ...

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm - 1 nm
Вес: 400 kg

CIQTEK SEM5000X — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с революционным разрешением 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Благодаря обновленному процессу проектирования колонн, технологии ...

Пространственное разрешение: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 - это автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с колонкой со сфокусированным ионным лучом для наноанализа и подготовки образцов, который применяется с технологией «SuperTunnel», низкой аберрацией и безмагнитной конструкцией ...

Увеличение : 1 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 2,5 nm - 5 nm
Длина: 926 mm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM3300 SEM *Электронная оптика Разрешение: 2,5 нм при 15 кВ, SE 4 нм при 3 кВ, SE 5 нм @ 1 кВ, SE Ускоряющее напряжение: 0,1 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): ...

Увеличение : 66 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,3 nm
Длина: 1 716 mm

... Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для получения поперечных изображений образцов большого объема CIQTEK HEM6000 использует такие технологии, как высокояркая электронная пушка с большим пучком тока, высокоскоростная система ...

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...