Микроскопы ДОРЭ

Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... Высокопроизводительная визуализация с интегрированным химическим анализом и определением структурных характеристик Новая система Thermo Scientific Apreo ChemiSEM поддерживает ваши исследования в области материаловедения, упрощая процесс ...

Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm

... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во ...

Пространственное разрешение: 1,3, 1, 0,8, 3 nm

... Экологический растровый электронный микроскоп (ESEM) для изучения материалов в их естественном состоянии. Экологический сканирующий электронный микроскоп Quattro Thermo Scientific Quattro ESEM сочетает в себе всестороннюю производительность ...

Пространственное разрешение: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm

... Сканирующий электронный микроскоп для универсальной, высокопроизводительной визуализации и анализа материалов. Лаборатории по определению характеристик современных материалов требуют доступа к новейшим методам и доводят аналитические ...

Пространственное разрешение: 515, 1 030 nm

... Фрезерование сфокусированным ионным пучком и фемтосекундная лазерная абляция Лазерные системы Thermo Scientific Helios 5 PFIB сочетают в себе плазменное фрезерование сфокусированным ионным пучком с фемтосекундной лазерной абляцией и визуализацией ...

Пространственное разрешение: 1,4, 0,7, 1,2 nm
Вес: 5 kg

... Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерной характеризации. Thermo Scientific Scios 2 DualBeam - это аналитическая система сканирующей ...

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg

CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости ...

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Электронная оптика Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE Напряжение ускорения：0,02 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid)：1 ~ 2,500,000 x Тип электронной пушки：Электронная ...

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для ...

Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm - 1 nm
Вес: 400 kg

CIQTEK SEM5000X — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с революционным разрешением 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Благодаря обновленному процессу проектирования колонн, технологии ...

Пространственное разрешение: 3, 0,9, 1,6 nm

CIQTEK DB500 - это автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с колонкой со сфокусированным ионным лучом для наноанализа и подготовки образцов, который применяется с технологией «SuperTunnel», низкой аберрацией и безмагнитной конструкцией ...

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...