＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во всем диапазоне энергий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 6 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Ширина: 340 mm
... Для ускорения научных открытий необходим мощный анализ данных. Но для этого также необходима универсальность. Thermo Scientific Quattro ESEM поможет вам проанализировать самый широкий спектр образцов среди всех РЭМ Thermo Scientific и включает в себя ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Сканирующий электронный микроскоп для универсальной, высокопроизводительной визуализации и анализа материалов. Лаборатории по определению характеристик современных материалов требуют доступа к новейшим методам и доводят аналитические инструменты, включая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
микроскоп с рентгеновским излучениемApreo ChemiSEM
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 1,8 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Система Thermo Scientific Apreo ChemiSEM обеспечивает всестороннее нанометровое или субнанометровое разрешение при аналитическом рабочем расстоянии 10 мм. Ее источник - полевая эмиссионная пушка (ПЭП) - позволяет анализировать широкий спектр чувствительных ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 1 030, 515 nm
... Фрезерование сфокусированным ионным пучком и фемтосекундная лазерная абляция Лазерные системы Thermo Scientific Helios 5 PFIB сочетают в себе плазменное фрезерование сфокусированным ионным пучком с фемтосекундной лазерной абляцией и визуализацией SEM ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,7, 1,2, 1,4 nm
Вес: 5 kg
... Универсальный FIB-SEM для высокой производительности с расширенной автоматизацией Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM - это современный аналитический растровый электронный микроскоп со сверхвысоким разрешением (FIB-SEM), ориентированный на ионный пучок. ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 20 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 1,6, 1,2 nm
Успехи в разработке новых материалов со сложной наноструктурой предъявляют повышенные требования к приборам FIB-SEM в отношении исключительного разрешения, точности и производительности. В ответ компания JEOL разработала многолучевую систему JIB-4700F ...
Jeol
... Универсальность и высокое пространственное разрешение сочетаются с автоматизацией с помощью серии FE-SEM JSM-IT810. Встроенная автоматизация визуализации и анализа EDS без кодирования обеспечивает оптимизированный и эффективный рабочий процесс. Доступны ...
Jeol
Увеличение : 10 unit - 5 480 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 3 nm
... Особенности JSM-IT800 включает в себя нашу «автоэмиссионную электронную пушку Шоттки Плюс в объективе» для визуализации с высоким разрешением для быстрого картирования элементов и инновационную электронно-оптическую систему управления «Neo Engine», ...
Jeol
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 7, 3 nm
Вес: 480 kg
CIQTEK SEM3200 — это высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовой нитью. Он обеспечивает превосходное качество изображения как в режиме высокого, так и в низком вакууме. Он также имеет большую глубину резкости и удобную для ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8 nm - 1,3 nm
Вес: 950 kg
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK FESEM SEM5000Pro -Электронная оптика Разрешение: 0,8 нм при 15 кВ, SE/1,2 нм при 1,0 кВ, SE Напряжение ускорения：0,02 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid)：1 ~ 2,500,000 x Тип электронной пушки：Электронная пушка ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
... CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно регулируемым ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для образцов Камера: ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm - 1 nm
Вес: 400 kg
... CIQTEK SEM5000X — это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с революционным разрешением 0,6 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 1 кВ. Благодаря обновленному процессу проектирования колонн, технологии «SuperTunnel» ...
CIQTEK Co., Ltd.
Пространственное разрешение: 3, 0,9, 1,6 nm
CIQTEK DB500 - это автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с колонкой со сфокусированным ионным лучом для наноанализа и подготовки образцов, который применяется с технологией «SuperTunnel», низкой аберрацией и безмагнитной конструкцией объектива, ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...
CIQTEK Co., Ltd.
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки