Микроскоп электронное сканирование с фокусированным ионным зондом Scios 2

для анализовдля контроля качествадля исследований

Сканирующий электронный микроскоп с фокусированным ионным пучком для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерной характеризации. Thermo Scientific Scios 2 DualBeam - это аналитическая система сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM) сверхвысокого разрешения, которая обеспечивает превосходную подготовку образцов и 3D характеризацию для широкого спектра образцов, включая магнитные и непроводящие материалы. Благодаря инновационным функциям, разработанным для повышения пропускной способности, точности и простоты использования, Scios 2 DualBeam является идеальным решением для удовлетворения потребностей ученых и инженеров в передовых исследованиях и анализе в академической, правительственной и промышленной исследовательской среде. Подповерхностная характеризация Для лучшего понимания структуры и свойств образца часто требуется подповерхностная или трехмерная характеризация. Scios 2 DualBeam с дополнительным программным обеспечением Thermo Scientific Auto Slice & View 4 (AS&V4) позволяет высококачественно и полностью автоматически получать мультимодальные трехмерные наборы данных, включая изображение обратно рассеянных электронов (BSE) для максимального контраста материалов, энергодисперсионную спектроскопию (EDS) для получения информации о составе и дифракцию обратного рассеяния электронов (EBSD) для получения микроструктурной и кристаллографической информации. В сочетании с программным обеспечением Thermo Scientific Avizo Software, Scios 2 DualBeam обеспечивает уникальное решение для рабочего процесса, позволяющее проводить 3D-характеристики высокого разрешения и анализ в нанометровом масштабе. Визуализация обратно рассеянных электронов и вторичных электронов Инновационная электронная колонка NICol обеспечивает основу возможностей системы по формированию изображений и обнаружению с высоким разрешением.