Микроскоп FIB/SEM Scios 3

для анализовдля контроля качествадля исследований

Универсальный FIB-SEM для высокой производительности с расширенной автоматизацией Thermo Scientific Scios 3 FIB-SEM - это современный аналитический растровый электронный микроскоп со сверхвысоким разрешением (FIB-SEM), ориентированный на ионный пучок. Он обеспечивает исключительную пробоподготовку и трехмерную характеризацию широкого спектра образцов, включая магнитные и непроводящие материалы. Разработанный с использованием инновационных функций для повышения производительности, надежности и простоты использования, FIB-SEM Scios 3 является идеальным решением для ученых и инженеров, проводящих передовые исследования и анализ в различных условиях. В сочетании с полным набором автоматизированных программных приложений Scios 3 FIB-SEM приспособлен для решения самых распространенных задач. Это удобное и инновационное решение значительно повышает производительность, что делает его ценным для пользователей как в промышленности, так и в научных кругах. особенности Автоматизированный анализ поперечного сечения FIB-SEM Scios 3 предлагает автоматизированное приложение для анализа поперечных сечений, позволяющее проводить высококачественную характеризацию недр с точным нацеливанием. Это упрощает рабочие процессы, сокращает вмешательство пользователя и обеспечивает получение стабильных высококачественных результатов в условиях высокой производительности. Высокопроизводительная аналитическая 3D-характеристика Программное обеспечение Thermo Scientific Auto Slice & View 5 для FIB-SEM Scios 3 обеспечивает автоматическое серийное секционирование для высокопроизводительного 3D-анализа. Бесшовная интеграция позволяет собирать мультимодальные данные, включая РЭМ-изображения, композиционную, микроструктурную и кристаллографическую информацию. Автоматизированная, высококачественная, специфическая для конкретного объекта (S)TEM пробоподготовка FIB-SEM Scios 3 позволяет быстро и легко готовить высококачественные образцы для ТЭМ.