Микроскопы вторичных электронов Hitachi

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... использовать EELS для расширенного анализа материалов. SU9000 - новый премиальный РЭМ компании HITACHI. Он обладает уникальной электронной оптикой, в которой образец располагается в зазоре между верхней и нижней частями ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm

... и всего, что между ними. Использование новой электронной оптики и систем детектирования позволяет эффективно одновременно получать множество сигналов от вторичных электронов и обратно ...

Пространственное разрешение: 1,2 nm

... Wizard новички в одночасье становятся экспертами. - Технология автоматической регулировки осей (автокалибровка) возвращает микроскоп в его "наилучшее состояние" по требованию. - Прочная "выдвижная" камера для образцов ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать ...

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 4, 5, 15 nm

... экономичным аналитическим инструментом без ущерба для производительности. Сканирующий электронный микроскоп FlexSEM 1000 II оснащен недавно разработанными электронно-оптическими системами ...

Увеличение : 10 unit - 25 000 054 unit
Вес: 54 kg
Длина: 614, 617 mm

... инновациями и передовыми технологиями, которые по-новому определяют возможности настольных микроскопов. Это новое поколение давно известных настольных микроскопов Hitachi (TM) объединяет в себе простоту ...

Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm

... Высокояркая и высокостабильная холодная электронная пушка FE (Cold FEG) - Сверхстабильная колонка и источники питания для повышения производительности прибора - Возможность одновременного получения изображений с Cs-коррекцией ...