Микроскопы вторичных электронов Hitachi

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6, 0,9, 0,8 nm
Вес: 25 kg

... Стандартно оснащенный 150-миллиметровым шлюзом для образцов, SU8700 обеспечивает высокую пропускную способность даже для больших образцов и постоянно чистую среду камеры для образцов, что позволяет получать изображения с низким уровнем загрязнения и высоким ...

Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm
Вес: 970 kg

... сжатие, нагрев / охлаждение, зондирование, серийные срезы микротома и т. д.). Как и SU8700, SU7000 оснащен универсальной электронной оптикой Hitachi с высоким разрешением и отсутствием поля (состоящей из эмиттера Шоттки и усилителя пучка) ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 2,5, 1,6, 3, 15 nm

... Особенности продукта: - Высокоэффективные детекторы Hitachi: -- Детектор вторичных электронов для высокого вакуума -- 5-сегментный полупроводниковый детектор обратнорассеянных электронов для высокого ...

Увеличение : 10 unit - 250 000 unit
Вес: 55, 53 kg
Длина: 614, 617 mm

... логическое продолжение оптической стереомикроскопии, TM4000 III является прибором начального уровня для сканирующей электронной микроскопии. Он позволяет получать изображения образцов в кратчайшие сроки с хорошим разрешением, ...

Увеличение : 6 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4 nm
Вес: 107 kg

... идти на компромисс с производительностью визуализации и вариативностью детектора. Особенности продукта: - 4 нм @ 20 кВ Электронная оптика высокого разрешения с энергией пучка от 300 до 20 кэВ - Высокий и регулируемый низкий вакуум до ...

... Источник электронов с холодной полевой эмиссией с энергетически узкой полосой излучения, идеально подходящий для визуализации с высоким разрешением и EELS - Полностью автоматизированный Cs-корректор Hitachi STEM - Детектор вторичных ...