Микроскоп SEM MAGNAметрологиинастольныйвысокое разрешение
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- SEM
- Применение
- метрологии
- Конфигурация
- настольный
- Другие характеристики
- высокое разрешение, высококонтрастный
Описание
UHR SEM для характеризации наноматериалов на субнанометрическом уровне
- высокоразрешающая и высококонтрастная визуализация материалов следующего поколения (например, структур катализаторов, нанотрубок, наночастиц и других наноразмерных структур)
- Отличная платформа, подходящая для метрологии SEM/STEM на субнанометрической шкале
- Быстрая настройка электронного пучка - оптимальные условия съемки гарантированы системой In-Flight Beam Tracing™
- Мультидетекторная система TriBE™ и TriSE™ для нанохарактеризации образцов
- Интуитивно понятная модульная программная платформа, предназначенная для легкой работы вне зависимости от уровня квалификации пользователей
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги Tescan GmbH
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп для письменного стола
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп для анализов
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Микроскоп для испытания материалов
- Микроскоп для контроля качества
- Микроскоп для исследований
- Конфокальный микроскоп
- Модульный микроскоп
- Микроскоп режим реального времени
- Микроскоп высокой точности
- Микроскоп SEM
- Высококонтрастный микроскоп
- Микроскоп вторичных электронов
- Микроскоп для проверки материалов
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.