＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 3, 8, 7 nm
Вес: 10 kg
... Гибкий, простой в использовании прибор SEM EDS, обеспечивающий мгновенный количественный элементный анализ. СЭМ-изображение и элементный анализ EDS Несмотря на то, что сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) достигла огромных успехов, ...
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm
... Модель SU8700 открывает новую эру сканирующих электронных микроскопов со сверхвысоким разрешением с полевой эмиссией Шоттки в давно известном модельном ряду Hitachi EM. Эта революционная платформа FE-SEM включает в себя многогранную визуализацию, ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Увеличение : 20 unit - 2 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8 nm
... Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функциональных возможностей, включая наблюдение в широкой области, анализ in-situ, переменное давление, получение изображений высокого разрешения при низких ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... См. больше из хирургического участка в одном взгляде, так что вы можете прогрессировать плавно через вашу следующую процедуру с хирургическим микроскопом напольного стенда PROvido. PROvido обеспечивает яркий, полностью сфокусированный ...
Leica Microsystems GmbH
... Наш цифровой микроскоп дополненной реальности ARveo расширит возможности ваших хирургических решений: - Расширенная цифровая визуализация для получения точной информации в режиме реального времени - Свобода выбора того, что ты видишь ...
Leica Microsystems GmbH
... Сосредоточьтесь на каждом этапе каждой операции при поддержке Leica M530 OHX. Эксклюзивная технология FusionOptics в сочетании с передовой оптикой и TriFluoro - тремя интегрированными режимами флуоресценции - позволяют Вам сосредоточиться ...
Leica Microsystems GmbH
Увеличение : 25 unit - 200 000 unit
Вес: 330 kg
Длина: 835 mm
... FusionScope - это корреляционный АСМ/СЭМ-микроскоп, который был разработан с нуля, чтобы позволить вам легко воспользоваться преимуществами сочетания этих двух методов анализа. Для большинства анализов часто бывает желательно проанализировать ...
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,5, 0,8 nm
Вес: 950 kg
... CIQTEK SEM5000 - полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп (FE-SEM, FEG SEM) с высоким разрешением и широкими возможностями. Усовершенствованная конструкция колонны, технология высоковольтного туннелирования (SuperTunnel), ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 0,6 nm
Вес: 400 kg
... SEM5000X - это полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп сверхвысокого разрешения (FE-SEM) с прорывным разрешением 0,6 нм@15 кВ и 1,0 нм@1 кВ. Благодаря усовершенствованному процессу проектирования колонн, технологии "SuperTunnel" ...
CIQTEK Co., Ltd.
Пространственное разрешение: 3, 1,2 nm
CIQTEK DB500 - это автоэмиссионный сканирующий электронный микроскоп с колонкой со сфокусированным ионным лучом для наноанализа и подготовки образцов, который применяется с технологией «SuperTunnel», низкой аберрацией и безмагнитной конструкцией ...
CIQTEK Co., Ltd.
Вес: 100 kg
... Выпущен новый электронный микроскоп с атомным разрешением! Модель "GRAND ARM™2" была модернизирована. Новый "GRAND ARM™2" позволяет проводить наблюдения с ультравысоким пространственным разрешением и высокочувствительный анализ в широком ...
Jeol
Увеличение : 10, 4, 2 unit
... Особенности Компактный универсальный инструментальный микроскоп, может быть установлен в мастерских и других небольших помещениях Цифровой микрометр облегчает проведение простых и точных измерений 3. Включить точное измерение ...
Leader Precision Instrument Co. Ltd
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось