Микроскопы для батарей

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm

... Приложения настольного РЭМ Phenom XL G2 Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) нового поколения Thermo Scientific Phenom XL G2 автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая точные, воспроизводимые результаты и высвобождая ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm

... Настольный сканирующий электронный микроскоп для производства и исследования батарей. Анализ передовых материалов для батарей Настольный СЭМ Phenom предназначен для анализа материалов батарей При производстве и исследовании батарей ...

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm

CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно ...

Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для ...

Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm

... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...