- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для батареи
Микроскопы для батарей
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Проверенный крупнокамерный РЭМ для быстрого получения изображений и анализа материалов Настольный РЭМ Thermo Scientific Phenom XL G3 создает условия для более быстрого и эффективного контроля качества и анализа отказов. Его увеличенная камера вмещает ...
Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 nm
Вес: 75 kg
... В быстро меняющемся мире производства и анализа аккумуляторов скорость - это все. Но не менее важен и точный анализ частиц. Thermo Scientific Phenom ParticleX Battery Desktop SEM обеспечивает и то, и другое. Он обеспечивает в 10 раз более высокую производительность, ...
Увеличение : 40 unit - 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4 nm - 8 nm
Вес: 120 kg
... Обзор
- Настольный сканирующий электронный микроскоп CEM3000A предназначен для наблюдения микроструктур и анализа поверхностей материалов. Обеспечивает высококонтрастную, большую глубину резкости при работе с вторичными (SE) и обратнорассеянными
микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)SEM4000Pro
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9 nm - 2,5 nm
... CIQTEK SEM4000 — это аналитический сканирующий электронный микроскоп с термополевой эмиссией, оснащенный высокояркой и долговечной автоэмиссионной электронной пушкой Шоттки. Трехступенчатая конструкция магнитной линзы с большим и плавно регулируемым ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 300 000 unit
Пространственное разрешение: 4,5, 3,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM2100 SEM Электронная оптика Разрешение: 3.9 нм при 20 кВ, SE 4.5 нм @ 20 кВ, BSE Ускоряющее напряжение: 0,5 кВ ~ 30 кВ Увеличение (Polaroid): 1 x ~ 300,000 x Камера для образцов Камера: ...
CIQTEK Co., Ltd.
Увеличение : 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,2, 1,9 nm
... Технические характеристики микроскопа CIQTEK SEM4000X FESEM Электронная оптика - Разрешение: 0.9 нм@ 30 кВ, SE 1.2 нм@15 кВ, SE 1.9 нм@1 кВ, SE 1.5 нм@1 кВ (ультра замедление пучка) ...
CIQTEK Co., Ltd.
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo