Микроскопы для полупроводниковых пластин

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
6 компании | 8 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}} {{#each product.productTagAssociationList}}
{{/each}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
электронный микроскоп с разверткой в проходящем свете
SU9000 II

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной оптике ...

оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse LV100ND

Вес: 9,5 kg
Длина: 657 mm
Ширина: 251 mm

... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации и идеально ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
микроскоп для полупроводниковых пластин
микроскоп для полупроводниковых пластин
SAM 300 AUTO WAFER

... SAM 300 AUTO WAFER - это производственная линия, разработанная для линейного управления производством склеенных пластин. Он совместим с чистыми помещениями класса 10. Основное применение - обнаружение пустот, включений и расслоенных участков на границе ...

микроскоп для полупроводниковых пластин
микроскоп для полупроводниковых пластин
MPS150

Пространственное разрешение: 5 µm

... Создайте свою 150-мм зондовую станцию на основе гибких модулей по невероятной цене! Компания FormFactor представляет новую модульную концепцию для своих лучших в своем классе 150-мм зондовых станций. Это еще больше упростит конфигурирование вашего индивидуального ...

Показать другие изделия
FORMFACTOR
цифровой микроскоп
цифровой микроскоп
VHX-X1

Увеличение : 2 500 unit - 6 000 unit
Вес: 10,8 kg

... Флагманская модель серии VHX, этот микроскоп обеспечивает высочайшее в своем классе разрешение с новыми режимами освещения и визуализации для выявления даже самых тонких деталей поверхности. Полностью моторизованная система поддерживает широкий спектр ...

атомно-силовая микроскоп
атомно-силовая микроскоп

Пространственное разрешение: 0,02 µm

... Обзор продукта
Атомно-силовой микроскоп (wafer-level AFM) — это высокоразрешающий зондовый сканирующий прибор, предназначенный для характеристики трехмерной морфологии поверхности и многофункциональных свойств проводников, полупроводников и ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки