- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп для полупроводниковых пластин
Микроскопы для полупроводниковых пластин
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}

Увеличение : 1 unit - 10 unit
... Полностью моторизованный цифровой микроскоп DSX2000 упрощает задачи, повышает производительность и оптимизирует работу исследователей и специалистов лабораторий контроля качества благодаря интеллектуальным инструментам, универсальной ...

Пространственное разрешение: 1 µm
... Микроскопические системы MX63 и MX63L оптимизированы для высококачественного контроля пластин размером до 300 мм, плоских панельных дисплеев, печатных плат и других крупных образцов. Их модульная конструкция позволяет выбирать компоненты, ...

... Новые оптические функции, предлагаемые Leica DM8000 M, такие как опциональный режим макро или косая ультрафиолетовая подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность ...

... Оптические функции, предлагаемые Leica DM12000 M, такие как опциональный режим макросъемки или наклонная УФ-подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при осмотре ...


электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной ...


микроскоп для полупроводниковых пластинSAM 300 AUTO WAFER
... SAM 300 AUTO WAFER - это производственная линия, разработанная для линейного управления производством склеенных пластин. Он совместим с чистыми помещениями класса 10. Основное применение - обнаружение пустот, включений и расслоенных ...

Пространственное разрешение: 5 µm
... Создайте свою 150-мм зондовую станцию на основе гибких модулей по невероятной цене! Компания FormFactor представляет новую модульную концепцию для своих лучших в своем классе 150-мм зондовых станций. Это еще больше упростит конфигурирование ...
FORMFACTOR

... Выполняйте высокопроизводительные измерения S-параметров на подложке по доступной цене с помощью измерительной станции, которую легко приобрести и которая поместится в самой маленькой лаборатории! Компания FormFactor представляет учебные ...
FORMFACTOR
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось