＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
... Новые оптические функции, предлагаемые Leica DM8000 M, такие как опциональный режим макро или косая ультрафиолетовая подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при проверке образцов ...
... Оптические функции, предлагаемые Leica DM12000 M, такие как опциональный режим макросъемки или наклонная УФ-подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность при осмотре образцов диаметром ...
Пространственное разрешение: 1 µm
... Микроскопические системы MX63 и MX63L оптимизированы для высококачественного контроля пластин размером до 300 мм, плоских панельных дисплеев, печатных плат и других крупных образцов. Их модульная конструкция позволяет выбирать компоненты, необходимые ...
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной оптике ...
Вес: 9,5 kg
Длина: 657 mm
Ширина: 251 mm
... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации и идеально ...
Nikon Metrology
... SAM 300 AUTO WAFER - это производственная линия, разработанная для линейного управления производством склеенных пластин. Он совместим с чистыми помещениями класса 10. Основное применение - обнаружение пустот, включений и расслоенных участков на границе ...
Пространственное разрешение: 5 µm
... Создайте свою 150-мм зондовую станцию на основе гибких модулей по невероятной цене! Компания FormFactor представляет новую модульную концепцию для своих лучших в своем классе 150-мм зондовых станций. Это еще больше упростит конфигурирование вашего индивидуального ...
FORMFACTOR
Увеличение : 2 500 unit - 6 000 unit
Вес: 10,8 kg
... Флагманская модель серии VHX, этот микроскоп обеспечивает высочайшее в своем классе разрешение с новыми режимами освещения и визуализации для выявления даже самых тонких деталей поверхности. Полностью моторизованная система поддерживает широкий спектр ...
Пространственное разрешение: 0,02 µm
... Обзор продукта
Атомно-силовой микроскоп (wafer-level AFM) — это высокоразрешающий зондовый сканирующий прибор, предназначенный для характеристики трехмерной морфологии поверхности и многофункциональных свойств проводников, полупроводников и ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки