- Метрология - Лабораторное дело
- Лабораторное Оборудование
- Микроскоп для контроля
- PVA TePla Analytical Systems GmbH
- Продукция
- Каталоги
Микроскоп для полупроводниковых пластин SAM 300 AUTO WAFERдля контроляавтоматизированныйсканирующее акустическое устройство
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Применение
- для контроля
- Другие характеристики
- автоматизированный, сканирующее акустическое устройство, для полупроводниковых пластин
Описание
SAM 300 AUTO WAFER - это производственная линия, разработанная для линейного управления производством склеенных пластин. Он совместим с чистыми помещениями класса 10.
Основное применение - обнаружение пустот, включений и расслоенных участков на границе раздела вафель.
---
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп для анализов
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Инвертированный микроскоп
- Микроскоп для исследований
- Микроскоп высокая скорость
- Экономичный микроскоп
- Зондовый микроскоп
- Микроскоп для полупроводника
- Микроскоп с разверткой зонда
- Микроскоп сканирующее акустическое устройство
- Микроскоп для полупроводниковых пластин
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.