＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать многие операции и эффективно ...
Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... Уникальный ТЭМ/система Hitachi с коррекцией аберраций 200 кВ: идеальная гармония разрешения изображения и аналитических характеристик 0.пространственное разрешение 078 нм в СТЭМ достигается в сочетании с высокой способностью наклона ...
Пространственное разрешение: 1 µm
... Микроскопические системы MX63 и MX63L оптимизированы для высококачественного контроля пластин размером до 300 мм, плоских панельных дисплеев, печатных плат и других крупных образцов. Их модульная конструкция позволяет выбирать компоненты, ...
... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой ...
... Инвертированные микроскопы компактны, прочны и используются для нужд высокого увеличения. Они идеально подходят для анализа монтажных образцов с плоской поверхностью и оснащены возможностью использования нескольких источников света BF, ...
... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется в производстве полупроводников ...
Увеличение : 10 unit - 2 740 000 unit
Пространственное разрешение: 0,9, 1,3 nm
... JSM-F100 Полевой эмиссионный сканирующий электронный микроскоп Шоттки JSM-F100 включает в себя не только нашу высоко оцененную полевую эмиссионную электронную пушку In-lens Schottky Plus и "Neo Engine" (электронно-оптическую систему управления), ...
Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm
... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, ...
Nikon Metrology
... SAM 400 - это высокопроизводительный инструмент, позволяющий проводить неразрушающие акустические исследования для специального высокопроизводительного анализа, контроля качества и исследовательских приложений. Он оснащен новым высокоскоростным ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось