＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
Пространственное разрешение: 1 µm
... Микроскопические системы MX63 и MX63L оптимизированы для высококачественного контроля пластин размером до 300 мм, плоских панельных дисплеев, печатных плат и других крупных образцов. Их модульная конструкция позволяет выбирать компоненты, необходимые ...
электронный микроскоп с разверткой в проходящем светеSU9000 II
Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... SU9000 II - это сочетание РЭМ для визуализации поверхности и сканирующего просвечивающего микроскопа (STEM) с разрешением по внутренним структурам, оптимизированное для экстремального разрешения. Это стало возможным благодаря уникальной электронной оптике ...
Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm
... Семейство SU3800/3900 VP-SEM ориентировано на производительность. Эти инструменты автоматизируют повторяющиеся задачи, что позволяет получить воспроизводимые результаты за короткое время при минимальных затратах ручного труда. Предлагаются две различные ...
Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 кВ, как в РЭМ. ...
Увеличение : 10 unit - 5 480 000 unit
Пространственное разрешение: 0,7 nm - 3 nm
... Особенности JSM-IT800 включает в себя нашу «автоэмиссионную электронную пушку Шоттки Плюс в объективе» для визуализации с высоким разрешением для быстрого картирования элементов и инновационную электронно-оптическую систему управления «Neo Engine», ...
Вес: 9,5 kg
Длина: 613 mm
Ширина: 251 mm
... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации и идеально ...
Nikon Metrology
... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой линзой, которая ...
... Инвертированные микроскопы компактны, прочны и используются для нужд высокого увеличения. Они идеально подходят для анализа монтажных образцов с плоской поверхностью и оснащены возможностью использования нескольких источников света BF, DF, DIC и POL для ...
Увеличение : 66 unit - 1 000 000 unit
Пространственное разрешение: 1,3 nm
Длина: 1 716 mm
... Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп для получения поперечных изображений образцов большого объема CIQTEK HEM6000 использует такие технологии, как высокояркая электронная пушка с большим пучком тока, высокоскоростная система отклонения ...
... SAM 400 - это высокопроизводительный инструмент, позволяющий проводить неразрушающие акустические исследования для специального высокопроизводительного анализа, контроля качества и исследовательских приложений. Он оснащен новым высокоскоростным необслуживаемым ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... Микроскоп серии ZTX-S использует оптическую систему формирования изображения с высоким разрешением, точной четкостью и сильным ощущением трехмерности, прост в эксплуатации. Микроскоп широко используется в производстве полупроводников и интегральных ...
... - Отличная работоспособность благодаря дополнительной вращающейся внутрь турели и высококачественным объективам с большим рабочим расстоянием. - Идеально подходит для использования в качестве микроскопа на станциях для обработки полупроводников. ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки