Оптический микроскоп FS seriesдля измеренийс большим рабочим расстояниемдля полупроводника
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- оптический
- Применение
- для измерений
- Другие характеристики
- с большим рабочим расстоянием, для полупроводника
Описание
- Отличная работоспособность благодаря дополнительной вращающейся внутрь турели и высококачественным объективам с большим рабочим расстоянием.
- Идеально подходит для использования в качестве микроскопа на станциях для обработки полупроводников.
- Модели L- и L4 поддерживают диапазоны длин волн YAG-лазера от 266 до 1064 нм, что позволяет выполнять лазерную резку тонких пленок и жидкокристаллических подложек.
- Эргономичный дизайн с комбинированной ручкой для грубой и увеличенной тонкой настройки фокуса.
---
Каталоги
Для этого товара не доступен ни один каталог.
Посмотреть все каталоги MITUTOYOРасширенный поиск
- Микроскоп
- Оптический микроскоп
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп с цифровой камерой
- Микроскоп со светодиодным освещением
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп высокое разрешение
- Компактный микроскоп
- Бинокулярный микроскоп
- Металлографический микроскоп
- Микроскоп высокой точности
- Механизированный микроскоп
- Микроскоп со значительным увеличением
- Микроскоп для обработки изображений
- Микроскоп для полупроводника
- Микроскоп для цеха
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.