Микроскопы сканирующие акустические устройства

Вам нужна помощь с выбором продукции?  Ознакомьтесь с нашим руководством по покупке
5 компании | 16 товаров
презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки
Search
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
микроскоп поляризатор
микроскоп поляризатор
ECLIPSE LV100N POL

Вес: 17 kg
Длина: 490 mm
Ширина: 251 mm

... Поляризационные микроскопы серии ECLIPSE LV100N POL и Ci-POL используются для изучения двулучепреломляющих свойств анизотропных образцов путем наблюдения за контрастом изображения и изменением цвета. Nikon предлагает системы как для количественного, ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
оптический микроскоп
оптический микроскоп
Eclipse LV100ND

Вес: 9,5 kg
Длина: 362 mm
Ширина: 251 mm

... Серия гибких модульных вертикальных микроскопов ECLIPSE LV100NDA и LV100ND компании Nikon предназначена для эпископических и диаскопических методов оптического контраста. Приборы могут поставляться с аксессуарами для камер цифровой визуализации ...

Показать другие изделия
Nikon Metrology
микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
AMOS

... Механические параметры: XYZ разрешение: 1 мкм Рабочая зона: 400x400x200 мм Скорость движения: 500 мм/с Скорость сканирования: от 20 мм/с на частоте 50 МГц Набор регулируемых лотков с держателями для образцов ...

микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
AM 300

... Линия SAM предлагает простые в использовании сканирующие акустические микроскопы для контроля технологического процесса и обеспечения качества, а также для научно-исследовательских целей. Отдельные модели производятся на компонентной ...

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп для анализов
микроскоп для анализов
SAM 300 E

... Линия SAM предлагает простые в использовании сканирующие акустические микроскопы для контроля технологического процесса и обеспечения качества, а также для научно-исследовательских целей. Отдельные модели производятся на компонентной ...

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
SAM 300

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
SAM 300 TWIN

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп для анализов
микроскоп для анализов
SAM 400

... SAM 400 - это высокопроизводительный инструмент, позволяющий проводить неразрушающие акустические исследования для специального высокопроизводительного анализа, контроля качества и исследовательских приложений. Он оснащен новым высокоскоростным ...

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп для анализов
микроскоп для анализов
SAM 400 TWIN

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
SAM 400 QUAD

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
SAM 1000/2000

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп сканирующее акустическое устройство
микроскоп сканирующее акустическое устройство
SAM 1000/2000

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
микроскоп для полупроводниковых пластин
микроскоп для полупроводниковых пластин
SAM 300 AUTO WAFER

... SAM 300 AUTO WAFER - это производственная линия, разработанная для линейного управления производством склеенных пластин. Он совместим с чистыми помещениями класса 10. Основное применение - обнаружение пустот, включений и расслоенных ...

Показать другие изделия
PVA TePla Analytical Systems GmbH
электронный сканирующий микроскоп
электронный сканирующий микроскоп
ECHO VS™

Показать другие изделия
Sonix
промышленный микроскоп
промышленный микроскоп
ECHO PRO™

Показать другие изделия
Sonix
оптический микроскоп
оптический микроскоп

... Уникальной особенностью Scanning Acoustic Microscopy является ее способность неразрушающе исследовать интерьер непрозрачных материалов с разрешением оптической световой микроскопии. За нашими успешными концепциями, определяющими тенденции ...

презентуйте свою продукцию

& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год

Стать участником выставки