Микроскопы для полированных образцов

... Этот материальный микроскоп сочетает в себе высококачественную оптику Leica и современную универсальную светодиодную подсветку с белым светом. Это идеальный инспекционный инструмент для выполнения всех видов рутинных инспекционных задач ...

... Новые оптические функции, предлагаемые Leica DM8000 M, такие как опциональный режим макро или косая ультрафиолетовая подсветка (OUV, с опцией i-line UV), не только улучшают разрешающую способность, но и ускоряют пропускную способность ...

... Если вы хотите исследовать кристаллические структуры, поляризационная микроскопия будет служить вам лучше всего. Будь то минералы, пластмассы и полимеры, лекарства и фармацевтика, или пигменты и цемент, с помощью наших поляризационных ...

Увеличение : 3 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Источник излучения холодного поля идеально подходит для получения изображений высокого разрешения при малом размере источника и разбросе энергии. Инновационная технология CFE Gun обеспечивает максимальную яркость и стабильность пучка, ...

Пространственное разрешение: 1,2 nm

... Инновационный аналитический FE-SEM обеспечивает простой переход между режимом высокого вакуума и переменного давления. EM Wizard - это основанная на знаниях система для визуализации РЭМ, которая выходит за рамки базовых предустановленных ...

Увеличение : 5 unit - 800 000 unit
Пространственное разрешение: 15, 4, 3 nm

... Производительность и мощность в гибкой платформе Сканирующие электронные микроскопы SU3800/SU3900 компании Hitachi High-Tech обладают высокой производительностью и расширяемостью. Оператор может автоматизировать многие операции и эффективно ...

... Новый "Микроскоп машинного зрения" (MVM) является чисто цифровым микроскопом со всеми характеристиками, которые делают микроскоп. Объектив оснащен апохроматически высококорректированным объективом микроскопа и соответствующей трубчатой ...

... Морфология поверхности - важное свойство для многих высокотехнологичных поверхностей с размерами до нескольких нанометров и шероховатостью поверхности менее одного нанометра. Nanite - это инструмент для анализа поверхности деталей любых ...

... Nanosurf LensAFM - это атомно-силовой микроскоп, который работает там, где оптические микроскопы и профилометры достигают своего предела разрешения. Он устанавливается как обычная объективная линза, что позволяет расширить разрешение ...

... Инвертированные микроскопы компактны, прочны и используются для нужд высокого увеличения. Они идеально подходят для анализа монтажных образцов с плоской поверхностью и оснащены возможностью использования нескольких источников света BF, ...