Микроскоп FTIR LUMOS II
для лабораторийпромышленныйдля анализа окружающей среды

Микроскоп FTIR - LUMOS II - Bruker Optics GmbH & Co. KG - для лабораторий / промышленный / для анализа окружающей среды
Микроскоп FTIR - LUMOS II - Bruker Optics GmbH & Co. KG - для лабораторий / промышленный / для анализа окружающей среды
Микроскоп FTIR - LUMOS II - Bruker Optics GmbH & Co. KG - для лабораторий / промышленный / для анализа окружающей среды - изображение - 2
Микроскоп FTIR - LUMOS II - Bruker Optics GmbH & Co. KG - для лабораторий / промышленный / для анализа окружающей среды - изображение - 3
Микроскоп FTIR - LUMOS II - Bruker Optics GmbH & Co. KG - для лабораторий / промышленный / для анализа окружающей среды - изображение - 4
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
 

Характеристики

Тип
FTIR
Применение
для лабораторий, промышленный, для анализа окружающей среды, для фармацевтической промышленности
Метод наблюдения
спектральный
Конфигурация
компактный
Другие характеристики
высокое разрешение, автоматизированный, механизированный

Описание

LUMOS II обеспечивает превосходное качество визуальных и спектральных данных при полной автоматизации всех режимов измерения: передачи, отражения и ATR. Для новичков и специалистов FTIR LUMOS II является лучшим решением для инфракрасной микроскопии. Эксклюзивная технология детектора Focal Plane Array (FPA) от Bruker позволяет получать детальное изображение с максимальной скоростью. Это позволяет в полной мере использовать широкие возможности ИК-Фурье микроскопии Программное обеспечение OPUS IR поможет вам всегда, когда вам это необходимо, и позволит вам легко скользить по экрану благодаря измерениям, оценкам и отчетам. Ваши преимущества: - Чрезвычайно быстрая ИК-Фурье-изображение (FT-IR) - Высокое спектральное качество и разрешение - Блестящие визуальные изображения и огромное поле зрения - Полностью автоматизированный ИК-Фурье микроскоп - Интегрированный, пьезо-управляемый ATR кристалл - Измерение и оценка с помощью программного обеспечения - Автоматическое измерение в трансмиссии, отражении и ATR - Большое пространство между ступенью образца и объективом - Анализ образцов высотой до 40 мм

---

ВИДЕО

Каталоги

* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.