- Метрология - Лабораторное дело >
- Лабораторное Оборудование >
- Микроскоп проверка стали
Микроскопы проверка стали
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}


микроскоп с полевой эмиссией катода (FESEM)SU3800SE/SU3900SE
Увеличение : 5 unit - 600 000 unit
Пространственное разрешение: 2,5, 0,9 nm
... РЭМ Hitachi SU3800SE и SU3900SE представляют собой универсальные решения для получения изображений и анализа в различных областях применения. Эти приборы обеспечивают высокое разрешение изображений, интуитивно понятную навигацию и передовую ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 µm - 10 µm
... Приложения настольного РЭМ Phenom XL G2 Настольный сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) нового поколения Thermo Scientific Phenom XL G2 автоматизирует процесс контроля качества, обеспечивая точные, воспроизводимые результаты и высвобождая ...

Увеличение : 160 unit - 200 000 unit
Пространственное разрешение: 0 nm - 10 000 nm
... Настольный SEM обеспечивает высокое качество производства стали за счет анализа отказов и совершенствования процессов. Металлургам и исследователям в области производства стали необходимы данные сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) ...

... Инвертированные микроскопы компактны, прочны и используются для нужд высокого увеличения. Они идеально подходят для анализа монтажных образцов с плоской поверхностью и оснащены возможностью использования нескольких источников света BF, ...
& связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставкиВаши предложения по улучшению услуг:
- Список брендов
- Личный кабинет производителя
- Личный кабинет покупателя
- Наши услуги
- Подписка на новостную рассылку
- Информация о группе предприятий VirtualExpo
Уточните, пожалуйста
Помогите нам улучшить качество наших услуг:
осталось