＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}} {{product.model}}
{{#if product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{#each product.specData:i}}
{{name}}: {{value}}
{{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}}
{{/each}}
{{{product.idpText}}}
электронный сканирующий микроскопVerios 5 XHR
Пространственное разрешение: 0,7, 1, 0,6 nm
... Сканирующая электронная микроскопия характеризует наноматериалы с субнанометровым разрешением и высоким контрастом материала. Сканирующий электронный микроскоп Verios 5 XHR СЭМ Verios 5 XHR обеспечивает субнанометровое разрешение во всем диапазоне энергий ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 6 unit - 2 500 000 unit
Пространственное разрешение: 1, 1,3, 3, 0,8 nm
Ширина: 340 mm
... Для ускорения научных открытий необходим мощный анализ данных. Но для этого также необходима универсальность. Thermo Scientific Quattro ESEM поможет вам проанализировать самый широкий спектр образцов среди всех РЭМ Thermo Scientific и включает в себя ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Пространственное разрешение: 0,9, 0,8, 1, 1,2 nm
Вес: 5 kg
Ширина: 340 mm
... Сканирующий электронный микроскоп для универсальной, высокопроизводительной визуализации и анализа материалов. Лаборатории по определению характеристик современных материалов требуют доступа к новейшим методам и доводят аналитические инструменты, включая ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Увеличение : 20 unit - 8 000 000 unit
Пространственное разрешение: 0,08, 0,1 nm
... HF5000 - это S/TEM с Cs-коррекцией, настраиваемый для экспериментов in-situ. Особенность прибора заключается в использовании детектора Everhart Thornley SE, который позволяет получать изображение поверхности образца при напряжении 60-200 кВ, как в РЭМ. ...
Увеличение : 10 unit
Пространственное разрешение: 1 nm
Вес: 50 kg
... 1. Высокая точность и высокая повторяемость 1) На основе вращающейся конфокальной оптической системы, в сочетании с высокой стабильностью структурного дизайна и отличным алгоритмом 3D реконструкции, система измерения совместно составлена для обеспечения ...
Увеличение : 10 unit - 220 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Dino-Lite AM73915MZT входит в линейку высокоскоростных проекторов с интерфейсом USB 3.0. Она обеспечивает превосходное качество несжатого изображения и цветопередачу в прочном, компактном и привлекательном металлическом корпусе. USB 3.0 добавляет новый ...
Увеличение : 10 unit - 140 unit
Вес: 110 g
Длина: 11,9 cm
... Dino-Lite AM73915MZTL - это модель с большим рабочим расстоянием, входящая в линейку High Speed с подключением USB 3.0. Она обеспечивает превосходное качество изображения без сжатия и цветопередачу в прочном, компактном и привлекательном металлическом ...
Увеличение : 40 unit - 800 unit
Увеличение : 40, 20 unit
... ● Тип оптического метрологического прибора, отличающегося простотой конструкции, удобством эксплуатации и широким применением. Освещение ● Измерение расстояния до отверстия, ширины канавки, ширины вдавливания щели, длины, качества поверхности металла, ...
... UHR SEM для характеризации наноматериалов на субнанометрическом уровне - высокоразрешающая и высококонтрастная визуализация материалов следующего поколения (например, структур катализаторов, нанотрубок, наночастиц и других наноразмерных структур) - Отличная ...
Увеличение : 2 unit - 200 unit
... МЗМ 1 - микроскоп с макромасштабированием Макро - микроскоп с функцией масштабирования для решения измерительных задач Для непрерывного изменения малых увеличений наш микроскоп MZM 1 с коэффициентом масштабирования 5:1 предлагает много возможностей для ...
Пространственное разрешение: 0,15, 0,02 nm
Вес: 2 720 kg
Длина: 1 450 mm
... Сканирующая головка Park NX-Tip - автоматизированная система атомно-силовой микроскопии (АСМ) для измерения сверхбольших и тяжелых плоскопанельных дисплеев в наномасштабе В ответ на растущий спрос на метрологию на основе АСМ на больших плоскопанельных ...
Увеличение : 19 unit - 120 unit
... Устройство LD 260 компании Metrology оснащено дисплеем с разрешением 1,3 мегапикселя, поддерживающим изображения. Это 8,4-дюймовое устройство позволяет оператору увеличивать изображение в диапазоне от 18,67 до 120 раз. Он может дублироваться и воспроизводиться ...
Пространственное разрешение: 0,5 µm
... Применение: Он широко используется в механической, измерительной, электронной и легкой промышленности; в университете, институте и метрологическом отделе. Проектор измерительного профиля может определять размеры контура и форму поверхности различных сложных ...
Увеличение : 40 unit - 100 unit
... OptiMIC Микроскоп Микроскоп с гониометром для машин EWAG WS11. N°: MA 118GC-031 Спецификации: - реальная картина. - Угол наблюдения 30°. - Стандартное увеличение от 40Х до 100Х. - 360° гониометра и 5' верньера. - Вес прибл. 1,2 кг. ...
... 3 принципа измерения в одной системе Автоматическое измерение нескольких областей на нескольких деталях AI-Analyzer легко определяет ключевые различия поверхностей 3D-оптический профилирующий микроскоп серии VK-X4000 объединяет методы лазерной конфокальной, ...
＆ связывайтесь со всеми клиентами в одном месте круглый год
Стать участником выставки