Атомно-силовая микроскоп NX-TSH

для контроля плоскопанельных дисплеевдля измеренийметрологии

Сканирующая головка Park NX-Tip - автоматизированная система атомно-силовой микроскопии (АСМ) для измерения сверхбольших и тяжелых плоскопанельных дисплеев в наномасштабе В ответ на растущий спрос на метрологию на основе АСМ на больших плоскопанельных дисплеях, компания Park Systems представила сканирующую головку NX-Tip, которая решает проблемы нанометрологии для образцов размером более 300 мм и весом более 1 кг. Сканирующая головка с подвижным наконечником (TSH) разработана специально для автоматизированных АСМ измерений и анализа больших образцов, таких как OLED и LCD экраны. С помощью Park NX-TSH можно получать надежные АСМ-изображения высокого разрешения на OLED-матрицах, ЖК-дисплеях, фотомасках и т.д., используя мостовую систему портального типа для повышения производительности и качества.