Микроскоп под действием интенсивного высокого вакуума NX-Hivacатомно-силоваядля измеренийПЗС
Добавить в папку «Избранное»
Добавить к сравнению
Характеристики
- Тип
- атомно-силовая
- Применение
- для измерений
- Тип детектора
- ПЗС
- Другие характеристики
- с большим рабочим расстоянием, под действием интенсивного высокого вакуума
- Пространственное разрешение
1 µm
Описание
Park NX-Hivac - высоковакуумный атомно-силовой микроскоп для анализа отказов и исследования материалов, чувствительных к атмосфере.
Поскольку сканирование в высоком вакууме обеспечивает большую точность и лучшую воспроизводимость по сравнению с условиями окружающей среды или сухого N2, пользователи могут, например, измерять широкий диапазон концентрации легирующих элементов и отклика сигнала в приложениях анализа отказов.
---
Каталоги
Products Overview
15 Страницы
Расширенный поиск
- Микроскоп
- Микроскоп для лабораторий
- Микроскоп для контроля
- Микроскоп для измерений
- Микроскоп высокое разрешение
- Автоматический микроскоп
- Промышленный микроскоп
- Микроскоп для исследований
- Модульный микроскоп
- Механизированный микроскоп
- Микроскоп ПЗС
- Зондовый микроскоп
- Микроскоп метрологии
- Микроскоп AFM
- Микроскоп с разверткой зонда
- Микроскоп наноскоп
- Микроскоп для больших проб
- Микроскоп для химической промышленности
* Цены указаны без учета налогов, без стоимости доставки, без учета таможенных пошлин и не включают в себя дополнительные расходы, связанные с установкой или вводом в эксплуатацию. Цены являются ориентировочными и могут меняться в зависимости от страны, цен на сырьевые товары и валютных курсов.