Микроскоп 3D VK-X4000

оптическийдля анализовметрологии

3 принципа измерения в одной системе Автоматическое измерение нескольких областей на нескольких деталях AI-Analyzer легко определяет ключевые различия поверхностей 3D-оптический профилирующий микроскоп серии VK-X4000 объединяет методы лазерной конфокальной, интерферометрии белого света и изменения фокуса в единую метрологическую систему, обеспечивая высокоточные бесконтактные измерения практически любых материалов и геометрии поверхностей. Недавно разработанная функция многоточечных измерений еще больше упрощает процесс анализа, автоматизируя измерения в нескольких точках и образцах, что исключает сложную настройку или программирование, обеспечивая более удобное использование, производительность и воспроизводимость. Три принципа измерения в одной системе: Непревзойденная 3D-точность для любой поверхности, любого материала, любой геометрии Лазерный конфокал Измерение любого материала, любой формы. Интерферометрия белого света Многоточечное сканирование для простых и автоматизированных 3D-измерений Точный захват 3D-данных о поверхности с субнанометровым разрешением. Изменение фокуса Измерение мелких деталей поверхности на большой площади. Легко настраивайте положение, координаты и параметры увеличения, просто щелкнув по точке, которую нужно измерить. Можно легко выбрать целевые элементы на детали. Все условия измерения применяются автоматически. Автоматический анализ шероховатости Значения Ra между этими двумя поверхностями одинаковы, но образцы явно выглядят по-разному. С помощью AI-Analyzer сравниваются десятки параметров поверхности, чтобы мгновенно определить, какие из них показывают наиболее сильные различия. Ra и Rz - два наиболее распространенных параметра шероховатости, но существует и множество других параметров.